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申请/专利权人：上海概伦电子股份有限公司
摘要：本发明公开了一种集成电路设计中寄生参数提取的屏蔽方法，包括以下步骤：读取层级屏蔽命令进行解析，所述层级屏蔽命令中至少包括需要屏蔽的层级信息；搜索需要屏蔽的层级所对应的LVS层图形作为屏蔽层图形，并对搜索到的LVS层图形赋予相应的blockID；进行寄生参数提取，当目标提取的LVS层图形被赋予电阻屏蔽的blockID时，则该LVS层图形的电阻不进行提取；当目标提取的两个LVS层图形被赋予电容屏蔽的blockID且blockID相同时，则这两个LVS层图形之间的电容不进行提取。能够完整有效的实现对特定层级、特定层级中的部分图形、特定器件、特定单元以及特定参数化单元的屏蔽。
主权项：1.一种集成电路设计中寄生参数提取的屏蔽方法，其特征在于，包括以下步骤：读取层级屏蔽命令进行解析，所述层级屏蔽命令中至少包括需要屏蔽的层级信息；搜索需要屏蔽的层级所对应的LVS层图形作为屏蔽层图形，并对搜索到的LVS层图形赋予相应的blockID；进行寄生参数提取，当目标提取的LVS层图形被赋予电阻屏蔽的blockID时，则该LVS层图形的电阻不进行提取；当目标提取的两个LVS层图形被赋予电容屏蔽的blockID且blockID相同时，则这两个LVS层图形之间的电容不进行提取。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海概伦电子股份有限公司 集成电路设计中寄生参数提取的屏蔽方法及系统
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