申请/专利权人：高通股份有限公司

申请日：2021-08-06

公开（公告）日：2024-03-26

公开（公告）号：CN117769846A

主分类号：H04W16/28

分类号：H04W16/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.12#实质审查的生效;2024.03.26#公开

摘要：本公开的某些方面提供了用于确定第一感测波束是否合格用于由待测设备DUT对至少第一发射波束进行信道感测的技术，通常包括基于在多个方向上对第一感测波束的感测增益的测量，对照合格性准则来评估该第一感测波束，以及当该第一感测波束满足该合格性准则时，声明该第一感测波束合格于针对第一发射波束的信道感测。

主权项：1.一种用于确定第一感测波束是否合格用于由待测设备DUT对至少第一发射波束进行信道感测的方法，包括：基于在多个方向上对所述第一感测波束的感测增益的测量，对照合格性准则来评估所述第一感测波束；以及当所述第一感测波束满足所述合格性准则时，声明所述第一感测波束合格于针对所述第一发射波束的信道感测。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 高通股份有限公司 对用于信道接入的感测波束的合格性的准则和符合性测试

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