申请/专利权人：杭州谱育科技发展有限公司

申请日：2023-11-27

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN117783035A

主分类号：G01N21/3504

分类号：G01N21/3504;G01N21/39

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开

摘要：本发明提供了FTIR分析仪的校正方法，所述FTIR分析仪包括激光器、气体室和中红外光源，所述FTIR分析仪的校正方法为：S1.含有水汽的混合气体通入所气体室中，所述混合气体中多种成分的浓度Ci已知，i=1,2…N，N是不小于2的整数；S2.所述中红外光源发出的测量光穿过所述气体室，所述FTIR分析仪输出水汽对应谱峰的测量位置V1；S3.获得所述位置V1和标准位置V0的差别，水汽对应谱峰的标准位置V0存储在所述FTIR分析仪中，若所述差别超出阈值，则校正所述激光器的波长；若所述差别低于阈值，进入下一步骤；S4.获得波长γ。本发明具有校正效果好等优点。

主权项：1.FTIR分析仪的校正方法，所述FTIR分析仪包括激光器、气体室和中红外光源，所述FTIR分析仪的校正方法为：S1.含有水汽的混合气体通入所气体室中，所述混合气体中多种成分的浓度Ci已知，i=1,2…N，N是不小于2的整数；S2.所述中红外光源发出的测量光穿过所述气体室，所述FTIR分析仪输出水汽对应谱峰的测量位置V1；S3.获得所述位置V1和标准位置V0的差别，水汽对应谱峰的标准位置V0存储在所述FTIR分析仪中，若所述差别超出阈值，则校正所述激光器的波长；若所述差别低于阈值，进入下一步骤；S4.获得波长γ； ；γ0是激光器基准波长，P、T分别是所述气体室内的压强和温度，δiT0、mi分别是所述混合气体中第i种气体在温度T0下的频移系数和温度系数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 杭州谱育科技发展有限公司 FTIR分析仪的校正方法

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