申请/专利权人：国营芜湖机械厂

申请日：2023-12-22

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117805583A

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01W1/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本发明属于离散量板测试技术领域，具体为一种大气数据计算机离散量板的测试方法，包括专用测试电路板，专用测试电路板与被测的离散量板连接，具体步骤如下：步骤1、电源电压产生；步骤2、控制信号产生；步骤3、数据输入及输出部分；步骤4、测试时，依次点击编译、执行、开始按钮，测试程序开始运行。本发明能够脱离现有的产品测试设备，通过单板测试实现大气数据计算机离散量板的故障快速定位，解决了其故障多发，故障点分散的问题。可以直接定位故障器件，提高了工作效率。操作简单，具有很强的实用性。

主权项：1.一种大气数据计算机离散量板的测试方法，其特征在于：包括专用测试电路板，专用测试电路板与被测的离散量板连接，具体步骤如下：步骤1、电源电压产生：对离散量板的电源端口加电，通过专用测试电路板上的电源指示灯显示电源是否加载成功；步骤2、控制信号产生：通过专用测试电路板给离散量板的控制部分输入数字IO控制信号，产生离散量板上相关控制信号，控制离散量板是否工作，以及控制可编程逻辑器件GAL20V8B和振荡器，使之组合产生18V供电信号控制输出部分的继电器是否工作；步骤3、数据输入及输出部分：通过专用测试电路板进行离散量信号的发送和采集，在专用测试电路板上对应采集端口添加发光二极管，通过发光二极管的发光情况反应相应通道的故障情况；步骤4、测试时，依次点击编译、执行、开始按钮，测试程序开始运行：DET1-1中，专用测试电路板上的可编程数字IO给端口A29、B29、C29、A30、B30、C30、A31、B31输入10100101，专用测试电路板上的端口B32、A33、C33、A35所连接的发光二极管应发光，同时可编程数字IO采集到的数据应为30030303；DET1-2中，专用测试电路板上的可编程数字IO给端口A29、B29、C29、A30、B30、C30、A31、B31输入01011010，专用测试电路板上的端口A32、C32、B33、C34所连接的发光二极管应发光，同时可编程数字IO采集到的数据应为03303030；DET2-1中，专用测试电路板上的可编程数字IO给端口A29、B29、C29、A30、B30、C30、A31、B31输入10100101，专用测试电路板上的数字IO给端口A12、B12、C12、A13、B13、C13、A14、B14输入01010101，专用测试电路板上的端口C35、B36、A37、C37、A39、C39、B34所连接的发光二极管应发光，同时专用测试电路板上的可编程数字IO采集到的数据应为030303030033030；DET2-2中，专用测试电路板上的可编程数字IO给端口A29、B29、C29、A30、B30、C30、A31、B31输入01010101，专用测试电路板上的数字IO给端口A12、B12、C12、A13、B13、C13、A14、B14输入10101010，专用测试电路板上的端口B35、A36、C36、B37、A38、C38、B39、A34所连接的发光二极管应发光，同时专用测试电路板上的可编程数字IO采集到的数据应为303030303300303；DET3-1中，专用测试电路板上的数字IO给端口A26、C25、B25、A25、C24、B24、A24、C23、B23、A23、C22、B22、A22、C21、B21、A21输入0101010101010101，经过锁存器、继电器、总线驱动器后，专用测试电路板上的数字IO再采集端口A26、C25、B25、A25、C24、B24、A24、C23、B23、A23、C22、B22、A22、C21、B21、A21的接收信号数据应为1010101011101010；DET3-2中，专用测试电路板上的数字IO给端口A26、C25、B25、A25、C24、B24、A24、C23、B23、A23、C22、B22、A22、C21、B21、A21输入1010101010101010，经过锁存器、继电器、总线驱动器后，专用测试电路板上的数字IO再采集端口A26、C25、B25、A25、C24、B24、A24、C23、B23、A23、C22、B22、A22、C21、B21、A21的接收信号数据应为0101010101010101。

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