申请/专利权人：山东大学

申请日：2024-01-09

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117857010A

主分类号：H04L9/00

分类号：H04L9/00;G06F21/72

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.09#公开

摘要：本申请适用于芯片安全技术领域，尤其涉及密码芯片安全检测方法、装置及设备，密码芯片安全检测方法包括：通过对目标密码芯片在不同输入数据和操作条件下进行差分功耗分析攻击，并进行周期性功耗采样，了解目标密码芯片的功耗数据。基于获得的功耗数据结果，通过DPA预测模型推断密钥信息。根据DPA预测模型推断结果，得到第一元安全检测分数。对目标密码芯片进行故障注入，采集目标密码芯片故障注入的响应数据。根据采集到的响应数据，得到目标密码芯片第二元安全检测分数。基于第一元安全检测分数和第二元安全检测分数，得到目标密码芯片综合检测结果，保障评估结果的稳定，解决安全检验的结果不到位，用户密钥易被违法获取，埋藏安全隐患的问题。

主权项：1.一种密码芯片安全检测方法，其特征在于，包括：对目标密码芯片在不同输入数据和操作条件下进行差分功耗分析攻击，并进行周期性功耗采样；基于所述周期性功耗采样的结果，通过DPA预测模型推断可能的密钥信息；基于所述DPA预测模型推断的结果，得到所述目标密码芯片的第一元安全检测分数；对所述目标密码芯片进行故障注入攻击，采集故障注入时的响应数据；根据采集到的所述响应数据，得到目标密码芯片的第二元安全检测分数；基于所述第一元安全检测分数和所述第二元安全检测分数，得到所述目标密码芯片综合检测结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 山东大学 密码芯片安全检测方法、装置及设备

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