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【发明授权】化学机械抛光组合物及使用其的化学机械抛光方法_CMC材料株式会社_202080086651.0 

申请/专利权人:CMC材料株式会社

申请日:2020-12-07

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN114829521B

主分类号:C09G1/02

分类号:C09G1/02;B24B37/00;B24B1/00;H01L21/306

优先权:["20191213 JP 2019-225212"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.09#授权;2022.08.16#实质审查的生效;2022.07.29#公开

摘要:该化学机械抛光组合物用于抛光基材,且含有:研磨剂、具有200,000或更低的重均分子量的羟乙基纤维素;碱性组分;表面活性剂;及水性载剂。

主权项:1.用于抛光基材的化学机械抛光组合物,含有:具有20~40nm的初级粒度的研磨剂;具有200,000或更低的重均分子量的羟乙基纤维素;碱性组分;表面活性剂,其包含亚烷基聚环氧烷胺聚合物,其中,该亚烷基聚环氧烷胺聚合物包含至少两个重复结构单元,所述重复结构单元包含具有键结至N原子的聚环氧烷烃基团及亚烷基基团的叔胺;及水性载剂。

全文数据:

权利要求:

百度查询: CMC材料株式会社 化学机械抛光组合物及使用其的化学机械抛光方法

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