申请/专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学

申请日：2023-12-29

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117831808A

主分类号：G21C17/06

分类号：G21C17/06;G21F3/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要：本公开涉及一种分析检测装置及乏燃料后处理系统，分析检测装置包括：基座；屏蔽体，固定于基座且包括主体部和封闭部，封闭部用于封闭主体部的开口且可开合；加速器组件和辐射源，加速器组件沿第一方向位于屏蔽体的一侧，且沿第一方向可移动地安装于基座，辐射源固定于加速器组件沿第一方向的一侧且位于屏蔽体内；测量组件，固定于屏蔽体内，且沿第一方向位于辐射源远离加速器组件的一侧，用于容纳被检物以实现检测模式；标定组件，通过开口可拆卸地安装在屏蔽体内，且沿第一方向位于辐射源远离加速器组件的一侧，用于容纳标定物以实现标定模式；和探测器组件，沿第二方向设在屏蔽体的一侧，且沿第一方向可移动地安装于基座。

主权项：1.一种分析检测装置，其特征在于，包括：基座1；屏蔽体7，固定于所述基座1，所述屏蔽体7用于进行射线防护且包括主体部71和封闭部72，所述主体部71设有开口711，所述封闭部72用于封闭所述开口711且可开合；加速器组件3和辐射源4，所述加速器组件3沿第一方向x位于所述屏蔽体7的一侧，且沿所述第一方向x可移动地安装于所述基座1，所述辐射源4固定于所述加速器组件3沿所述第一方向x的一侧且位于所述屏蔽体7内，用于接收所述加速器组件3发出的射线而产生粒子；测量组件5，固定于所述屏蔽体7内，且沿所述第一方向x位于所述辐射源4远离所述加速器组件3的一侧，用于容纳被检物以实现检测模式；标定组件6，通过所述开口711可拆卸地安装在所述屏蔽体7内，且沿所述第一方向x位于所述辐射源4远离所述加速器组件3的一侧，用于容纳标定物以实现标定模式；和探测器组件8，沿垂直于所述第一方向x的第二方向y设在所述屏蔽体7的一侧，且沿所述第一方向x可移动地安装于所述基座1，用于接收与被检物或标定物作用后的粒子，以分析被检物或标定物的种类和含量。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 同方威视技术股份有限公司;清华大学 分析检测装置及乏燃料后处理系统

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