首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

一种多层介质的介电常数提取方法 

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

申请/专利权人:惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司

摘要:本发明公开了一种多层介质的介电常数提取方法,包括以下步骤:通过测量装置测量当前i层介质的i层透射系数S211‑i和i层反射系数S111‑i,同时获取第i层介质层的厚度;根据第i层介质层的平面电磁波穿过第i层介质层的相位差与特征矩阵计算得到i层介质的i层透射系数T1‑i和i层反射系数R1‑i;根据测量的i层透射系数S211‑i和i层反射系数S111‑i与计算的i层透射系数T1‑i和i层反射系数R1‑i的对应关系,通过数值方法求解得到第i层介质层的介电常数数值。本发明通过测量的透射系数和反射系数与计算的透射系数和反射系数逐层求解得到每层介质层的介电常数数值,实现高精度的提取多个涂层的介电常数,提取求解介电常数数值后,可把保险杠设计到更优,以获得更好的雷达性能。

主权项:1.一种多层介质的介电常数提取方法,其特征在于,所述介电常数从所述多层介质的第一层介质层开始逐层提取,包括以下步骤:通过测量装置测量当前i层介质的i层透射系数S211-i和i层反射系数S111-i,同时获取第i层介质层的厚度;根据第i层介质层的平面电磁波穿过第i层介质层的相位差与特征矩阵计算得到i层介质的i层透射系数T1-i和i层反射系数R1-i;根据测量的i层透射系数S211-i和i层反射系数S111-i与计算的i层透射系数T1-i和i层反射系数R1-i的对应关系,通过数值方法求解得到第i层介质层的介电常数数值;其中:i=1,2,…N。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 一种多层介质的介电常数提取方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。