申请/专利权人：上海如海光电科技有限公司

申请日：2023-12-28

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117825353A

主分类号：G01N21/65

分类号：G01N21/65;G06V10/74;G01N21/27

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要：本发明公开了一种基于MCR‑ALS的混合物体系基质光谱去除方法，包括：S1获取包含目标物质以及基质的原始混合光谱和只有基质的原始基质光谱；S2进行基线校正、归一化处理，得到预处理后混合光谱D和预处理后基质光谱B；S3采用MCR‑ALS算法通过迭代计算出纯物质基光谱矩阵S和权重矩阵C；S4根据矩阵S和C还原出目标物质光谱和基质光谱；S5将分解出的基质光谱与已知标准基质光谱进行匹配和定性识别；S6计算生成的光谱与原始光谱的解释方差。本发明能够将混合物光谱中的基质物质光谱去除的较为完全，且对目标物质光谱特征峰影响较小；从而减少基质光谱对目标物质光谱特征峰的影响，方便后续定量定性等分析。

主权项：1.一种基于MCR-ALS的混合物体系基质光谱去除方法，其特征在于，包括如下步骤：S1获取包含目标物质以及基质的原始混合光谱和只有基质的原始基质光谱；S2对原始混合光谱和原始基质光谱进行基线校正、归一化处理，得到预处理后混合光谱D和预处理后基质光谱B；S3采用MCR-ALS算法通过迭代计算出基质和目标物质的纯物质基光谱矩阵S和权重矩阵C；S4根据纯物质基光谱矩阵S和权重矩阵C还原出目标物质光谱；S5将分解出的基质光谱与标准基质光谱进行匹配和定性识别；S6计算MCR-ALS生成的光谱与原始光谱的解释方差，用来对分解的结果进行评估。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海如海光电科技有限公司 一种基于MCR-ALS的混合物体系基质光谱去除方法

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