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【发明公布】单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法_季华实验室_202410252945.6 

申请/专利权人:季华实验室

申请日:2024-03-06

公开(公告)日:2024-04-05

公开(公告)号:CN117825767A

主分类号:G01R1/067

分类号:G01R1/067;G01R31/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要:本发明涉及电学检测技术领域,特别公开一种单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法,其中,所述单分子器件探针进针装置包括基座、宏动机构及微动机构;所述宏动机构设于所述基座,所述微动机构设于所述宏动机构;所述微动机构安装有探针和单分子器件中二者之一,所述宏动机构安装有所述探针和所述单分子器件中二者之另一;所述宏动机构和所述微动机构运动,并带动所述探针和所述单分子器件相互靠近,以使所述探针与所述单分子器件接触导通。本发明技术方案无需设置高精度仪器和极端实验环境也能实现单分子器件探针进针的动作,进而降低单分子器件的电学检测难度。

主权项:1.一种单分子器件探针进针装置,其特征在于,所述单分子器件探针进针装置包括基座、宏动机构及微动机构;所述宏动机构设于所述基座,所述微动机构设于所述宏动机构;所述微动机构安装有探针和单分子器件中二者之一,所述宏动机构安装有所述探针和所述单分子器件中二者之另一;所述宏动机构和所述微动机构运动,并带动所述探针和所述单分子器件相互靠近,以使所述探针与所述单分子器件接触导通。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 季华实验室 单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法

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