申请/专利权人：沈阳仪表科学研究院有限公司

申请日：2022-10-27

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN115639638B

主分类号：G02B5/28

分类号：G02B5/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.05#授权;2023.02.14#实质审查的生效;2023.01.24#公开

摘要：本发明属光学滤光片领域，尤其涉及一种多通道荧光检测用低角度效应多陷波分色滤光片，包括基片上镀制的基础膜系，其膜系结构为：S|k0.5LcHbL2aHbLcH0.5L^m|A；其中：S为玻璃基底；A为空气；H为高折射率材料；L为低折射率材料，其中k为波长系数，调整波长系数可调整陷波位置和选择合适的陷波带宽；a为陷波系数，通过调整陷波系数调节陷波数量和角度偏移程度；b、c为消偏振系数，通过调整消偏振系数调整消偏振程度；m为膜系的总体循环个数，决定膜系的陡度和截止深度。本发明在45°入射时具备低角度效应，具有透射范围宽、陡度高及消偏振特性，可实现多个陷波带且陷波个数可调。

主权项：1.一种多通道荧光检测用低角度效应多陷波分色滤光片，其特征在于，各层厚度分布如下：

全文数据：

权利要求：

百度查询： 沈阳仪表科学研究院有限公司 多通道荧光检测用低角度效应多陷波分色滤光片

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