申请/专利权人：季华实验室

申请日：2023-06-27

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN116579183B

主分类号：G06F30/20

分类号：G06F30/20;G06F119/14

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.05#授权;2023.08.29#实质审查的生效;2023.08.11#公开

摘要：本申请属于反射镜加工的技术领域，公开了一种反射镜加工分析方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取反射镜的第一结构数据、辅助支撑环的第二结构数据，构建对应的反射镜模型和支撑环模型，根据预设的极限抗压阈值，调整反射镜模型的刀具加工力矩，确定反射镜的加工应力，通过辅助支撑方法，基于反射镜模型和支撑环模型，结合预设的共振频率范围，计算得到反射镜的镜面频率及对应的辅助支撑环的厚度，汇总反射镜的加工应力、反射镜的镜面频率和辅助支撑环的厚度，生成反射镜的加工分析结果数据，通过反射镜的加工应力和镜面频率以及辅助支撑环的厚度，对反射镜的加工进行分析，提高了反射镜的加工效率。

主权项：1.一种反射镜加工分析方法，用于对反射镜的加工进行分析，其特征在于，包括步骤：S101，获取反射镜的第一结构数据、辅助支撑环的第二结构数据；S102，构建与所述第一结构数据对应的反射镜模型和与所述第二结构数据对应的支撑环模型；S103，根据预设的极限抗压阈值，调整所述反射镜模型的刀具加工力矩，确定所述反射镜的加工应力；S104，通过辅助支撑方法，基于所述反射镜模型和所述支撑环模型，结合预设的共振频率范围，计算得到所述反射镜的镜面频率及对应的所述辅助支撑环的厚度；S105，汇总所述反射镜的加工应力、所述反射镜的镜面频率和所述辅助支撑环的厚度，生成所述反射镜的加工分析结果数据；步骤S103包括：A1，设定所述反射镜模型的刀具加工力矩，并确定对应的刀具与镜面的接触面积；A2，基于所述刀具加工力矩和所述接触面积，计算所述反射镜模型的模型加工应力；A3，对比所述反射镜模型的模型加工应力与所述预设的极限抗压阈值，以确定所述反射镜的加工应力；步骤A3包括：A31，判断所述反射镜模型的模型加工应力是否小于所述预设的极限抗压阈值；若是，则执行步骤A32；若否，则执行步骤A33；A32，确定所述反射镜模型的模型加工应力为所述反射镜的加工应力；A33，调节所述刀具加工力矩和所述对应的刀具与镜面的接触面积，返回执行步骤A2；步骤S104包括：B1，通过所述辅助支撑方法，确定所述反射镜模型的模型镜面频率和所述支撑环模型的模型厚度；B2，根据所述预设的共振频率范围、所述模型镜面频率和所述模型厚度，确定所述反射镜的镜面频率及对应的所述辅助支撑环的厚度；步骤B1包括：B11，设置所述支撑环模型的模型厚度；B12，通过所述辅助支撑方法，基于所述模型厚度，计算所述反射镜模型的模型镜面频率；步骤B2包括：B21，判断所述模型镜面频率是否在所述预设的共振频率范围内；若是，则确定所述模型镜面频率会引发共振危险，执行步骤B22；若否，则确定所述模型镜面频率不会引发共振危险，执行步骤B23；B22，调节所述支撑环模型的模型厚度，返回执行步骤B12；B23，确定所述模型镜面频率为所述反射镜的镜面频率，确定所述模型厚度为所述辅助支撑环的厚度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 季华实验室 反射镜加工分析方法、装置、电子设备及存储介质

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