申请/专利权人:苏州艾克瑞特仪器有限公司
申请日:2024-01-10
公开(公告)日:2024-04-12
公开(公告)号:CN117870584A
主分类号:G01B15/02
分类号:G01B15/02
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开
摘要:本发明公开了一种X射线测厚仪的在线校正装置,包括工作架、设置于工作架上的产品放置装置、设置于产品放置装置上的第一校正装置、设置于工作架上的测厚装置、设置于测厚装置上的第二校正装置,所述第一校正装置固定安装于产品放置装置上,所述第二校正装置固定安装于测厚装置上。本发明的有益效果是,能够很好地完成对涂层的厚度测量,并且在工作过程中,通过限位块、第一校正机构、第二校正机构、调整块、第三校正机构、第四校正机构能够很好地完成对产品的限位及其校正,使用效果佳,便于企业推广使用。
主权项:1.一种X射线测厚仪的在线校正装置,其特征在于,包括工作架1、设置于工作架1上的产品放置装置2、设置于产品放置装置2上的第一校正装置3、设置于工作架1上的测厚装置4、设置于测厚装置4上的第二校正装置5,所述第一校正装置3固定安装于产品放置装置2上,所述第二校正装置5固定安装于测厚装置4上。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 苏州艾克瑞特仪器有限公司 一种X射线测厚仪的在线校正装置及方法
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