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【发明公布】基于误差反射面拟合的聚光接收器光强分析方法_西安电子科技大学_202311619790.7 

申请/专利权人:西安电子科技大学

申请日:2023-11-30

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117871041A

主分类号:G01M11/02

分类号:G01M11/02;G06T17/20

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本发明公开了基于误差反射面拟合的聚光接收器光强分析方法,具体按照以下步骤实施:生成入射光线,并根据测量数据或者给定误差数据生成反射面误差点;对反射面误差点进行全曲面拟合,生成表征反射面曲面特征的拟合误差曲面;对误差拟合面进行蒙特卡洛光迹追踪法分析,得到经过误差拟合面聚光后的接收面各位置的光强分布结果;本发明方法能够描述误差变形反射面的特征并进行光路分析,得到聚光系统接收面光分布。有利于改进反射面与接收面的结构,使得接收面光分布更均匀。

主权项:1.基于误差反射面拟合的聚光接收器光强分析方法,其特征在于,具体按照以下步骤实施:步骤1、生成入射光线,并根据测量数据或者给定误差数据生成反射面误差点;步骤2、对反射面误差点进行全曲面拟合,生成表征反射面曲面特征的拟合误差曲面;步骤3、对误差拟合面进行蒙特卡洛光迹追踪法分析,得到经过误差拟合面聚光后的接收面各位置的光强分布结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西安电子科技大学 基于误差反射面拟合的聚光接收器光强分析方法

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