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【发明公布】基于微波散射原理的磁力线倾斜角度测量系统和方法_核工业西南物理研究院_202410060372.7 

申请/专利权人:核工业西南物理研究院

申请日:2024-01-16

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117877767A

主分类号:G21B1/21

分类号:G21B1/21

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本发明公开了基于微波散射原理的磁力线倾斜角度测量系统和方法,涉及核聚变技术领域,本发明的测量系统和方法可应用于对磁约束聚变装置的磁力线偏转角进行长期稳定的监测,保证磁约束装置获得较高的性能。本发明通过微波收发技术、等离子体中的微波散射原理和可调偏振片的组合测量磁力线倾斜角度,通过快速调节偏振片的角度并同时对不同接收位置处、不同极化方向的散射信号进行功率强度测量,通过不同极化方向微波散射信号与可调偏振片之间的依赖关系,获得磁力线倾斜角度。

主权项:1.一种基于微波散射原理的磁力线倾斜角度测量系统,其特征在于,所述测量系统用于测量磁约束聚变装置的磁力线倾斜角度,所述测量系统包括:微波发射接收装置、可调偏振片和信号处理模块;所述微波发射接收装置包括可调频率源、发射天线、第一接收天线和第二接收天线;所述可调偏振片被配置为在测量时匀速旋转,并将旋转角度同步至所述信号处理模块;所述可调频率源用于向外输出预定频率的微波信号,所述微波信号经由发射天线进入匀速旋转的所述可调偏振片,再经由可调偏振片透射后进入所述磁约束聚变装置的等离子体中,并在等离子体中发生散射后返回所述可调偏振片;所述第一接收天线和所述第二接收天线的极化方向互相垂直,所述第一接收天线和所述第二接收天线用于分别接收在等离子体中发生散射后返回所述可调偏振片的微波信号;所述信号处理模块用于基于所述第一接收天线和所述第二接收天线接收的微波信号和所述可调偏振片的旋转角度确定所述磁约束聚变装置的磁力线倾斜角度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 核工业西南物理研究院 基于微波散射原理的磁力线倾斜角度测量系统和方法

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