申请/专利权人：浙江华电器材检测研究院有限公司;中国电力科学研究院有限公司

申请日：2023-12-08

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117872048A

主分类号：G01R31/12

分类号：G01R31/12;G06F17/18;G16C60/00;G06F30/20;G01N21/359;G06F111/04

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本发明属于电力电缆性能检测技术领域，具体涉及基于近红外光谱的电缆绝缘材料性能预测方法及相关设备，方法包括获取包括多个校正样品的光谱数据及性能数据的校正集；获取待测样品的光谱数据，从校正集中获取与待测样品最邻近的k个校正样品；根据待测样品的光谱数据与k个校正样品的光谱数据，构建待测样品的光谱数据约束条件及权重函数；基于待测样品的光谱数据、权重函数及光谱数据约束条件构建目标校正模型，通过模型计算k个校正样品中每一校正样品的光谱数据对应的权重系数；基于k个校正样品的权重系数和对应的性能数据确定待测样品的目标性能参数。本申请模型简单、计算量小，能更好地处理非线性关系，有利于提高目标校正模型预测准确率。

主权项：1.基于近红外光谱的电缆绝缘材料性能预测方法，其特征在于，方法包括以下步骤：获取校正集，所述校正集中包括多个校正样品的光谱数据及性能数据；获取待测样品的光谱数据，从所述校正集中获取与所述待测样品最邻近的k个校正样品；根据所述待测样品的光谱数据与所述最邻近的k个校正样品的光谱数据，构建所述待测样品的光谱数据约束条件及权重函数；基于所述待测样品的光谱数据、所述权重函数及所述光谱数据约束条件构建目标校正模型，通过所述目标校正模型计算最邻近的k个校正样品中每一校正样品的光谱数据对应的权重系数；根据最邻近的k个校正样品中每一校正样品的光谱数据对应的权重系数和所述校正集中多个校正样品的性能数据，确定所述待测样品的目标性能参数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 浙江华电器材检测研究院有限公司;中国电力科学研究院有限公司 基于近红外光谱的电缆绝缘材料性能预测方法及相关设备

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