申请/专利权人：青岛超瑞纳米新材料科技有限公司

申请日：2024-01-30

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117649661B

主分类号：G06V20/69

分类号：G06V20/69;G06V10/34;G06V10/56;G06V10/42;G06V10/30;G06V10/82

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2024.03.22#实质审查的生效;2024.03.05#公开

摘要：本发明公开了一种碳纳米管制备状态图像处理方法，属于图像处理技术领域，包括以下步骤：S1、利用扫描电子显微镜扫描碳纳米管样品的表面，得到表面图像，对表面图像进行去噪处理，得到特征图像；S2、确定特征图像中各个像素点的状态特征值，得到特征图像的状态特征矩阵；S3、根据特征图像的状态特征矩阵，对特征图像进行修正，得到标准表面图像，完成图像处理。本发明对扫描的碳纳米管样品的表面图像进行去噪处理后，提取表征整个图像像素点特征的状态特征矩阵，状态特征矩阵经过卷积以及特征计算等得到；本发明还根据状态特征矩阵对图像进行色彩修正，保证碳纳米管样品图像的清晰度，进而提高观察的准确性。

主权项：1.一种碳纳米管制备状态图像处理方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、利用扫描电子显微镜扫描碳纳米管样品的表面，得到表面图像，对表面图像进行去噪处理，得到特征图像；S2、确定特征图像中各个像素点的状态特征值，得到特征图像的状态特征矩阵；S3、根据特征图像的状态特征矩阵，对特征图像进行修正，得到标准表面图像，完成图像处理；所述S2包括以下子步骤：S21、根据特征图像中各个像素点的RGB分量，确定各个像素点的色彩权重；S22、构建状态特征模型，将各个像素点的色彩权重输入至状态特征模型中，确定各个像素点的状态特征值；S23、根据各个像素点的状态特征值，生成特征图像的状态特征矩阵；所述状态特征模型包括依次连接的深度卷积模块、全局特征模块和输出模块；所述全局特征模块的表达式为：，式中，Q表示全局特征模块的输出，Cm表示深度卷积模块中第m个卷积核的输出，Km表示深度卷积模块中第m个卷积核的大小，qm表示深度卷积模块中第m个卷积核处理的像素点对应的色彩权重，Bm表示深度卷积模块中第m个卷积核的步长，M表示深度卷积模块的卷积核个数，σ表示所有卷积核输出的标准差，exp·表示指数函数，q表示全局特征模块的超参数；所述输出模块的表达式为：，式中，Z表示输出模块中第n个输出层的输出，Q表示全局特征模块的输出，R表示第n个输出层对应的像素点的红色分量，G表示第n个输出层对应的像素点的绿色分量，B表示第n个输出层对应的像素点的蓝色分量，ln·表示对数函数；所述S23中，生成状态特征矩阵的具体方法为：将特征图像的像素点行数作为状态特征矩阵的行数，将特征图像的像素点列数作为状态特征矩阵的列数，将每行像素点的状态特征值作为状态特征矩阵每行的元素，生成特征图像的状态特征矩阵。

全文数据：

权利要求：

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