申请/专利权人：北京航天测控技术有限公司

申请日：2023-12-28

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117890474A

主分类号：G01N29/06

分类号：G01N29/06;G01N29/44;G01N29/07

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.03#实质审查的生效;2024.04.16#公开

摘要：本发明提供一种复合全聚焦成像方法、系统、电子设备及存储介质。其中，方法包括：步骤S1、采集被测试件的全矩阵数据，根据超声传播路径与模态计算不同模式的超声波全聚焦成像结果；步骤S2、根据超声波传播参数与散射系数，计算不同模式的缺陷响应空间分布图；步骤S3、通过计算所述缺陷响应空间分布图相对于成像质心处的方向导数，获得不同模式超声成像的空间补偿参数；步骤S4、将所述缺陷响应空间分布图拟合到平面，将不同模式的所述超声波全聚焦成像结果按照其对应的所述空间补偿参数加权与重新缩放得到成像数据，对所述成像数据求和得复合全聚焦成像结果。本发明能大大提高监测的精准度和灵敏性，及时准确发现监测结构中的微小缺陷。

主权项：1.一种复合全聚焦成像方法，其特征在于，所述方法包括：步骤S1、采集被测试件的全矩阵数据，根据超声传播路径与模态计算不同模式的超声波全聚焦成像结果；步骤S2、根据超声波传播参数与散射系数，计算不同模式的缺陷响应空间分布图；步骤S3、通过计算所述缺陷响应空间分布图相对于成像质心处的方向导数，获得不同模式超声成像的空间补偿参数；步骤S4、将所述缺陷响应空间分布图拟合到平面，将不同模式的所述超声波全聚焦成像结果按照其对应的所述空间补偿参数加权与重新缩放得到成像数据，对所述成像数据求和得复合全聚焦成像结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京航天测控技术有限公司 一种复合全聚焦成像方法、系统、电子设备及存储介质

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