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【发明公布】一种痘痘严重程度分级方法、装置、电子设备及存储介质_深圳市宗匠科技有限公司_202410295668.7 

申请/专利权人:深圳市宗匠科技有限公司

申请日:2024-03-15

公开(公告)日:2024-04-16

公开(公告)号:CN117893840A

主分类号:G06V10/764

分类号:G06V10/764;G06V10/82;G06V10/80;G06V10/40;G06V10/74;G16H50/20;G16H30/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.03#实质审查的生效;2024.04.16#公开

摘要:本发明公开了一种痘痘严重程度分级方法、装置、电子设备及存储介质;该方法包括:获取待分级图像,对待分级图像进行全局特征提取,得到全局特征;将全局特征作为输入,输入到顺次连接的至少一个特征变换模块中,得到最后一个特征变换模块所输出的目标特征,特征变换模块包括第一卷积和批归一化模块以及至少一个自校准模块,第一卷积和批归一化模块和各自校准模块顺次连接,自校准模块用于对特征进行校准;基于目标特征进行分组特征融合,得到融合特征;将融合特征与至少两个标准分级图像集合中的标准分级图像进行相似度计算,确定待分级图像对应的痘痘严重程度等级,解决了痘痘严重程序分级不准确的问题,提高痘痘分级的准确性,降低分级误差。

主权项:1.一种痘痘严重程度分级方法,其特征在于,包括:获取待分级图像,对所述待分级图像进行全局特征提取,得到全局特征;将所述全局特征作为输入,输入到顺次连接的至少一个特征变换模块中,得到最后一个特征变换模块所输出的目标特征,所述特征变换模块包括第一卷积和批归一化模块以及至少一个自校准模块,所述第一卷积和批归一化模块和各所述自校准模块顺次连接,所述自校准模块用于对特征进行校准;基于所述目标特征进行分组特征融合,得到融合特征;将所述融合特征与至少两个标准分级图像集合中的标准分级图像进行相似度计算,确定所述待分级图像对应的痘痘严重程度等级。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳市宗匠科技有限公司 一种痘痘严重程度分级方法、装置、电子设备及存储介质

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