申请/专利权人：深圳市中兴微电子技术有限公司

申请日：2022-10-08

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117890753A

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G11C29/12

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.16#公开

摘要：本申请提出一种芯片测试方法、寄存器、电子设备和存储介质，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：在扫描模式下，获取外部加载的测试向量；在测试向量的作用下，分别对多个原始时钟信号进行时长延迟和脉冲处理，获得多个时钟脉冲信号，时钟脉冲信号为具有预设延迟时长且以脉冲信号的形式表征的时钟信号，多个时钟脉冲信号之间没有交互路径且能够实现其承载的逻辑数据有序传输；在移位模式下，基于移位信号的作用将时钟脉冲信号输出至芯片外部，时钟脉冲信号用于对芯片的数据处理功能进行测试。减少测试向量的数量，提升测试效率，并且，多个时钟脉冲信号之间没有交互路径且能够实现其承载的逻辑数据有序传输。

主权项：1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：在扫描模式下，获取外部加载的测试向量；在所述测试向量的作用下，分别对多个原始时钟信号进行时长延迟和脉冲处理，获得多个时钟脉冲信号，所述时钟脉冲信号为具有预设延迟时长且以脉冲信号的形式表征的时钟信号，多个所述时钟脉冲信号之间没有交互路径且能够实现其承载的逻辑数据有序传输；在移位模式下，基于移位信号的作用将所述时钟脉冲信号输出至芯片外部，所述时钟脉冲信号用于对所述芯片的数据处理功能进行测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市中兴微电子技术有限公司 芯片测试方法、寄存器、电子设备和存储介质

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