申请/专利权人：华南师范大学

申请日：2021-12-07

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN114200654B

主分类号：G02B21/00

分类号：G02B21/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.16#授权;2022.04.05#实质审查的生效;2022.03.18#公开

摘要：本发明公开了一种用于STED超分辨成像的全介质超表面结构，包括结构层、衬底层、第一入射光及第二入射光，所述结构层固接在衬底层底面，所述衬底层为平板形高透过率均匀介质，所述结构层包括多个椭圆柱，多个所述椭圆柱高度相同大小不同，多个所述椭圆柱固接在衬底层底面，所述椭圆柱为高折射率均匀介质材质。本发明通过入射光的偏振和结构层各单元角度及尺寸的配合，可同时对两个不同波长的入射光束分别进行波前相位调控，避免了传统光学器件由于色散导致的离焦效应，因此，单独使用本结构即可同时形成聚焦的激发光和损耗光，该发明可简化聚焦光路，提高STED荧光显微系统的集成度，提高了光转化效率及聚焦效率。

主权项：1.一种用于STED超分辨成像的全介质超表面结构，包括结构层1、衬底层2、第一入射光3及第二入射光4，所述结构层1固接在衬底层2底面；所述衬底层2为平板形高透过率均匀介质,高透过率均匀介质为二氧化硅；所述结构层1包括多个椭圆柱11；所述椭圆柱11为高折射率均匀介质材质，高折射率均匀介质材质为硅；其特征在于：所述第一入射光3及第二入射光4由衬底层2表面同时入射，所述第一入射光3为波长为λ1的环形径向偏振光，所述第二入射光4为波长为λ2的环形角向偏振光；所述结构层1中的椭圆柱11在不同位置有不同的摆放角度,所述结构层1中的椭圆柱11两个轴线的方向分别与该处第一入射光3及第二入射光4的偏振方向保持一致；所述结构层1中的椭圆柱11在不同位置处轴线尺寸不同，所述椭圆柱11在位置r处两轴线尺寸应使得该位置处对于第一入射光3与第二入射光4的聚焦相位分别为和所述所述其中f为聚焦焦平面处的焦距。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 华南师范大学 一种用于STED超分辨成像的全介质超表面结构

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