申请/专利权人:北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
申请日:2023-12-27
公开(公告)日:2024-04-19
公开(公告)号:CN117912535A
主分类号:G11C29/56
分类号:G11C29/56;G11C29/50;G11C29/10
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开
摘要:本申请公开了一种闪存存储器低温数据保持寿命测试方法、电子设备及介质。该方法可以包括:将被测闪存存储器样品分为两组,一组用于高温擦写耐久性测试,记为高温擦写样品组,另一组用于低温擦写耐久性测试,记为低温擦写样品组;分别针对两组样品进行高温与低温的擦写循环测试;分别针对两组样品进行低温条件下的数据保持寿命测试;构建性能退化模型,计算加速应力下每个样品的伪寿命;构建加速模型,计算正常应力下样品的数据保持寿命指标,确定闪存存储器产品低温条件下的可靠性数据。本发明实现了对闪存存储器低温条件下数据保持寿命的测试。
主权项:1.一种闪存存储器低温数据保持寿命测试方法,其特征在于,包括:将被测闪存存储器样品分为两组,一组用于高温擦写耐久性测试,记为高温擦写样品组,另一组用于低温擦写耐久性测试,记为低温擦写样品组;分别针对两组样品进行高温与低温的擦写循环测试;分别针对两组样品进行低温条件下的数据保持寿命测试;构建性能退化模型,计算加速应力下每个样品的伪寿命;构建加速模型,计算正常应力下样品的数据保持寿命指标,确定闪存存储器产品低温条件下的可靠性数据。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司 闪存存储器低温数据保持寿命测试方法、电子设备及介质
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