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【发明公布】闪存存储器低温数据保持寿命测试方法、电子设备及介质_北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司_202311822097.X 

申请/专利权人:北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司

申请日:2023-12-27

公开(公告)日:2024-04-19

公开(公告)号:CN117912535A

主分类号:G11C29/56

分类号:G11C29/56;G11C29/50;G11C29/10

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开

摘要:本申请公开了一种闪存存储器低温数据保持寿命测试方法、电子设备及介质。该方法可以包括:将被测闪存存储器样品分为两组,一组用于高温擦写耐久性测试,记为高温擦写样品组,另一组用于低温擦写耐久性测试,记为低温擦写样品组;分别针对两组样品进行高温与低温的擦写循环测试;分别针对两组样品进行低温条件下的数据保持寿命测试;构建性能退化模型,计算加速应力下每个样品的伪寿命;构建加速模型,计算正常应力下样品的数据保持寿命指标,确定闪存存储器产品低温条件下的可靠性数据。本发明实现了对闪存存储器低温条件下数据保持寿命的测试。

主权项:1.一种闪存存储器低温数据保持寿命测试方法,其特征在于,包括:将被测闪存存储器样品分为两组,一组用于高温擦写耐久性测试,记为高温擦写样品组,另一组用于低温擦写耐久性测试,记为低温擦写样品组;分别针对两组样品进行高温与低温的擦写循环测试;分别针对两组样品进行低温条件下的数据保持寿命测试;构建性能退化模型,计算加速应力下每个样品的伪寿命;构建加速模型,计算正常应力下样品的数据保持寿命指标,确定闪存存储器产品低温条件下的可靠性数据。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司 闪存存储器低温数据保持寿命测试方法、电子设备及介质

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