申请/专利权人：株式会社爱德万测试

申请日：2023-09-12

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117907164A

主分类号：G01N15/02

分类号：G01N15/02;G01N15/08

优先权：["20221014 JP 2022-165568"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开

摘要：本发明提供能够进行准确的信息管理的孔隙设备。孔隙设备100A与计测装置200A一起使用。孔隙设备100A具有孔隙芯片102、以及由孔隙芯片102划分的腔室即芯片盒130。测定用端子组110是为了从计测装置200A向腔室施加电信号并将腔室中产生的电信号输出到计测装置200A而设置的。接口单元150与非易失性存储器140连接，是为了从外部访问非易失性存储器140而设置的。

主权项：1.一种孔隙设备，其与计测装置一起使用，其特征在于，所述孔隙设备具备：孔隙芯片；由所述孔隙芯片划分的腔室；测定用端子组，其用于从所述计测装置向所述腔室施加电信号，并将所述腔室中产生的电信号输出到所述计测装置；非易失性存储器；以及接口单元，其与所述非易失性存储器连接，用于从外部访问所述非易失性存储器。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 株式会社爱德万测试 孔隙设备和微粒测定系统

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