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【发明公布】基于时频分析的目标检测方法、系统和无线电探测设备_航天科工微电子系统研究院有限公司_202311804033.7 

申请/专利权人:航天科工微电子系统研究院有限公司

申请日:2023-12-25

公开(公告)日:2024-04-19

公开(公告)号:CN117907958A

主分类号:G01S7/41

分类号:G01S7/41;G01S13/88

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开

摘要:本发明提供了一种基于时频分析的目标检测方法、系统和无线电探测设备,检测方法包括对探测点周围空间进行探测,获取回波信号;对回波信号进行数据处理,获取数字信号;将数字信号进行两次FFT变换,获得回波信号的距离‑多普勒谱;对同一距离的多普勒谱进行时频分析,得到同一距离元上的多普勒谱相对时间的分布;通过边沿检测从多普勒谱相对时间分布的数据中提取目标数据,其中,所述目标数据用以表示所述低慢小目标相对探测点的距离。设备包括TR组件、天线阵列、数模转换模块、信号处理板和一维转台。检测系统包括无线电探测设备和上位机。本发明利用时间积累解决低慢小目标在雷达回波中多普勒不明显的问题,有效增加对低慢小目标探测的几率。

主权项:1.一种基于时频分析的目标检测方法,其特征在于,包括:对探测点覆盖范围内的空间进行探测,获取回波信号;对回波信号进行数据处理,获取数字信号;将数字信号进行两次FFT变换,获得回波信号的距离-多普勒谱;对同一距离的多普勒谱进行时频分析,得到同一距离元上的多普勒谱相对时间的分布;通过边沿检测从多普勒谱相对时间分布的数据中提取目标数据,其中,所述目标数据用以表示低慢小目标相对探测点的距离。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 航天科工微电子系统研究院有限公司 基于时频分析的目标检测方法、系统和无线电探测设备

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