申请/专利权人：云南大学;昆明理工大学

申请日：2023-12-06

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117907409A

主分类号：G01N27/48

分类号：G01N27/48;G01N27/30

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开

摘要：本发明涉及一种CdⅡ和或PbⅡ重金属离子的电化学检测方法，属于重金属离子检测技术领域。本发明以离子印迹聚合膜修饰的玻碳电极为工作电极，AgAgCl电极为参比电极，铂柱电极为对电极，利用示差脉冲伏安法分别对不同CdⅡ浓度的缓冲溶液B、不同PbⅡ浓度的缓冲溶液C以及不同CdⅡ和PbⅡ浓度的缓冲溶液D进行测定，绘制示差脉冲伏安曲线，以峰电流和离子浓度关系绘制得到标准曲线；将离子印迹聚合膜修饰的玻碳电极放入盛有待测CdⅡ和或PbⅡ重金属样品液的测量池中，采用示差脉冲伏安法以相同的条件测定待测重金属样品液，绘制示差脉冲伏安曲线，得到CdⅡ和或PbⅡ的峰电流，将CdⅡ和或PbⅡ的峰电流代入标准曲线得到待测CdⅡ和或PbⅡ重金属样品液中CdⅡ和或PbⅡ重金属浓度。

主权项：1.一种CdⅡ和或PbⅡ重金属离子的电化学检测方法，其特征在于，具体步骤如下：（1）以离子印迹复合膜修饰的玻碳电极为工作电极，AgAgCl电极为参比电极，铂柱电极为对电极，利用示差脉冲伏安法对不同CdⅡ浓度的缓冲溶液B进行测定，绘制CdⅡ示差脉冲曲线，以峰电流和CdⅡ浓度关系绘制得到CdⅡ标准曲线；利用示差脉冲伏安法对不同PbⅡ浓度的缓冲溶液C进行测定，绘制PbⅡ示差脉冲曲线，以峰电流和PbⅡ浓度关系绘制得到PbⅡ标准曲线；利用示差脉冲伏安法对不同CdⅡ和PbⅡ浓度的缓冲溶液D进行测定，绘制CdⅡ@PbⅡ示差脉冲曲线，以峰电流和CdⅡ、PbⅡ浓度关系绘制得到CdⅡ@PbⅡ标准曲线；其中离子印迹复合膜修饰的玻碳电极为IIM-Zr-MOF@Ag@CHI修饰电极；（2）将离子印迹复合膜修饰的玻碳电极、参比电极和对电极放入盛有待测CdⅡ和或PbⅡ重金属样品液的测量池中，采用示差脉冲伏安法以步骤（1）相同的条件测定待测CdⅡ和或PbⅡ重金属样品液，绘制示差脉冲曲线，得到CdⅡ和或PbⅡ的峰电流，将CdⅡ和或PbⅡ的峰电流代入步骤（1）对应的标准曲线得到待测CdⅡ和或PbⅡ重金属样品液中CdⅡ和或PbⅡ重金属浓度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 云南大学;昆明理工大学 一种Cd(Ⅱ)和/或Pb(Ⅱ)重金属离子的电化学检测方法

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