申请/专利权人：哈尔滨工业大学

申请日：2023-12-06

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117907225A

主分类号：G01N21/01

分类号：G01N21/01;G01N21/64

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开

摘要：一种空间谱估计晶格照明超分辨显微装置与方法，属于超分辨荧光显微技术领域，显微方法包括，S1：包括激光光源，准直扩束镜、二维光栅、相移器、准直透镜、中继透镜、管镜、二向色镜、物镜、荧光样品、滤光片、集光透镜和相机。利用二维光栅生成点阵列结构照明，相机采集低分辨率图像，平均照明图案均匀，可避免因散斑照明不均匀，采样不充分导致的图像失真，且当光子预算相同时，在点阵列结构照明的条件下可以减少无效照明，提高图像的信噪比，最大程度避免光漂白，延长荧光探针的发光时间；根据阈值划分信号与噪声子空间，利用映射向量在相互正交的信号子空间与噪声子空间投影比值获得高分辨率图像；根据成像系统噪声模型，通过最大似然估计得到信号特征值数量以确定视场内任意点的最佳信噪比阈值σ0，无需选取阈值避免主观因素的影响。

主权项：1.根据权利要求1所述的一种空间谱估计晶格照明超分辨显微方法，其特征在于，利用奇异值分解得到二维光栅3产生的晶格照明下的低分辨图像序列所组成测量数据矩阵的时间基向量，进而对低分辨率图像进行去噪，通过提高低分辨率图像信噪比，减小重构所需低分辨率图像，提高成像时间分辨率。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 哈尔滨工业大学 一种空间谱估计晶格照明超分辨显微装置与方法

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