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申请/专利权人：中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请日：2023-12-18
公开（公告）日：2024-04-19
公开（公告）号：CN117907796A
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28;H04B17/00
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开
摘要：本发明涉及一种的DDS芯片的自动化测试方法，包括以下步骤：开始检测前上位机网络自检，开发下发自动检测命令；设置JDDS9957测试信号频率值和功率电平，由上位机通过网络交换机下发到信号源，频点选择芯片手册推荐的典型值给定；DDS测试母板接收到JDDS9957参考时钟数据后，通过测试母板算法处理使JDDS9957发射一个固定功率电平和频率值的测试频点，通过SMA给到频谱仪，频谱仪对接收的到的测试频点进行相关动态指标的测算；上位机通过网络交换机实时读取频谱仪测试的动态指标数据，与手册典型指标作对比，可以实时判断当前测试指标是否满足要求。该方法可在20秒内完成一片DDS的检测，故障率非常低，操作简单，极大地提高生产效率并降低使用成本。
主权项：1.一种的DDS芯片的自动化测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、开始检测前上位机网络自检，确定电源、频谱仪、信号源和DDS测试母板连接均正常，此时开发下发自动检测命令；步骤2、设置JDDS9957测试芯片的固定的参考时钟的信号频率值和功率电平，由上位机通过网络交换机下发到信号源，频点选择芯片手册推荐的典型值给定；步骤3、DDS测试母板接收到JDDS9957参考时钟数据后，通过测试母板算法处理使JDDS9957发射一个固定功率电平和频率值的测试频点，通过SMA给到频谱仪，频谱仪对接收的到的测试频点进行相关动态指标的测算；步骤4、上位机通过网络交换机实时读取频谱仪测试的动态指标数据，与手册典型指标作对比，可以实时判断当前测试指标是否满足要求。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子科技集团公司第五十八研究所 一种的DDS芯片的自动化测试方法及其测试系统
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