申请/专利权人：IC分析有限责任公司

申请日：2022-06-24

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117916876A

主分类号：H01L23/00

分类号：H01L23/00;H01L21/00;G06F11/00;G01R31/28;H01L21/02;G01R31/26

优先权：["20210625 US 63/215,050"]

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.19#公开

摘要：一种装置具有容纳芯片的行和列的半导体晶片，其中芯片的行和列由划线分开。选择电路系统位于划线内。选择电路系统连接到划线中的测试电路。选择电路系统操作以在单个测试电路处启用电压控制，同时禁用所有其它测试电路，并且包括用于每个测试电路的头部开关和用于每个测试电路的底部开关。

主权项：1.一种装置，包括：容纳芯片的行和列的半导体晶片，其中芯片的行和列由划线分开；以及位于所述划线内的选择电路系统，所述选择电路系统连接到所述划线中的测试电路，所述选择电路系统操作以在单个测试电路处启用电压控制，同时禁用所有其它测试电路。

全文数据：

权利要求：

百度查询： IC分析有限责任公司 在测试电路上设置精确电压的装置和方法

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