申请/专利权人：广州广华智电科技有限公司

申请日：2020-05-28

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN111707910B

主分类号：G01R31/12

分类号：G01R31/12;G01R31/18;G01R27/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.19#授权;2021.06.08#实质审查的生效;2020.09.25#公开

摘要：本发明提供一种瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路，该瓷绝缘子内绝缘检测方法包括：S101：通过冲击电压发生器发送冲击电压，并利用测量回路获取电压变化波形数据；S102：根据电压变化波形数据获取第一电压幅值和第一衰减时间常数以及第二电压幅值和第二衰减时间常数；S103：根据第一衰减时间常数和第二衰减时间常数获取待测瓷绝缘子的绝缘电阻；S104：根据第一电压幅值与第二电压幅值的大小或正常瓷绝缘子的绝缘电阻与待测瓷绝缘子的绝缘电阻的大小判断待测瓷绝缘子是否为劣化瓷绝缘子。本发明准确度高，能够快速检测内绝缘劣化的瓷绝缘子，并且加压时间短，功率小，能量消耗少，判断逻辑简单便于集成，便于检测设备小型化，应用场所广。

主权项：1.一种瓷绝缘子内绝缘检测方法，其特征在于，所述瓷绝缘子内绝缘检测方法包括：S101：通过冲击电压发生器分别对正常瓷绝缘子、待测瓷绝缘子发送冲击电压，所述冲击电压为60-100kv的高压,并利用测量回路获取所述正常瓷绝缘子、待测瓷绝缘子的电压变化波形数据；S102：根据所述电压变化波形数据获取所述正常瓷绝缘子对应的第一电压幅值和第一衰减时间常数以及所述待测瓷绝缘子对应的第二电压幅值和第二衰减时间常数；所述根据所述电压变化波形数据获取所述正常瓷绝缘子对应的第一电压幅值和第一衰减时间常数以及所述待测瓷绝缘子对应的第二电压幅值和第二衰减时间常数的步骤具体包括：1）根据正常瓷绝缘子的所述电压变化波形数据获取电压序列以及与所述电压序列对应的时间序列，通过所述电压序列、时间序列获取所述第一电压幅值和第一衰减时间常数；所述通过所述电压序列、时间序列获取所述第一电压幅值和第一衰减时间常数的步骤具体包括：根据所述电压序列的最大值获取第一电压幅值；获取所述电压序列和时间序列中电压衰减段的数据，通过所述电压衰减段的数据获取第一衰减时间常数；2）根据待测瓷绝缘子的所述电压变化波形数据获取待测瓷绝缘子的电压序列以及与所述电压序列对应的时间序列，通过所述电压序列、时间序列获取所述第二电压幅值和第二衰减时间常数；S103：根据所述第一衰减时间常数和第二衰减时间常数获取所述待测瓷绝缘子的绝缘电阻；所述根据所述第一衰减时间常数和第二衰减时间常数获取所述待测瓷绝缘子的绝缘电阻的步骤具体包括：判断所述第二衰减时间常数是否小于第一衰减时间常数的二分之一；若是，则通过公式获取所述待测瓷绝缘子的绝缘电阻，其中，RX为待测瓷绝缘子的绝缘电阻，为第二衰减时间常数，T为第一衰减时间常数，R0为测量回路的输入阻抗；若否，则确定；S104：根据所述第一电压幅值与所述第二电压幅值的大小或所述正常瓷绝缘子的绝缘电阻与所述待测瓷绝缘子的绝缘电阻的大小判断所述待测瓷绝缘子是否为劣化瓷绝缘子；所述根据所述第一电压幅值与所述第二电压幅值的大小或所述正常瓷绝缘子的绝缘电阻与所述待测瓷绝缘子的绝缘电阻的大小判断所述待测瓷绝缘子是否为劣化瓷绝缘子的步骤具体包括：判断第二电压幅值是否小于第一电压幅值与预设阈值的乘积或待测瓷绝缘子的绝缘电阻是否小于正常瓷绝缘子的绝缘电阻；若是，则确定所述待测瓷绝缘子为劣化瓷绝缘子；若否，则确定所述待测瓷绝缘子为合格瓷绝缘子。

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