申请/专利权人：深圳市应星开物科技有限公司

申请日：2021-04-08

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN113092514B

主分类号：G01N23/2257

分类号：G01N23/2257;G01N23/2202

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.19#授权;2021.07.27#实质审查的生效;2021.07.09#公开

摘要：本发明提供了一种陶瓷制品中钡元素含量的无损检测方法，包括如下步骤：烧制成多个校正样品试片；采用能量色散X射线荧光光谱法对每个校正样品试片的钡元素总含量进行测试，得到每个校正样品试片的钡元素的测试总含量；建立钡含量的测试误差值与样品厚度的校正函数；采用能量色散X射线荧光光谱法对待测样品进行测试，得到待测样品的钡元素的初始测试含量C1；测量待测样品的厚度l，将l带入校正函数计算钡含量的测试误差值，根据钡含量的测试误差值与C1计算待测样品的钡元素的真实含量C2。

主权项：1.一种陶瓷制品中钡元素含量的无损检测方法，其特征在于，包括如下步骤：将陶瓷原料磨碎，过筛，与水混合，添加碳酸钡粉末，然后烧制成多个校正样品试片，多个所述校正样品试片的厚度不同且碳酸钡添加的百分含量相同；采用能量色散X射线荧光光谱法对每个所述校正样品试片的钡元素总含量进行测试，得到每个所述校正样品试片的钡元素的测试总含量；根据多个所述校正样品试片的厚度、多个所述校正样品试片的钡元素的测试总含量以及多个所述校正样品试片经湿式化学分析获得的真实总含量，建立钡含量的测试误差值与样品厚度的校正函数；采用所述能量色散X射线荧光光谱法对待测样品进行测试，得到所述待测样品的钡元素的初始测试含量C1；测量待测样品的厚度l，将l带入所述校正函数计算所述钡含量的测试误差值，根据所述钡含量的测试误差值与C1计算所述待测样品中的钡元素的含量C2；所述校正函数包括一组校正函数和二组校正函数，建立所述校正函数包括如下步骤：根据多个所述校正样品试片经湿式化学分析获得的真实总含量和多个所述校正样品试片的钡元素的测试总含量，确定最佳厚度lm，以及厚度为lm的校正样品试片的钡元素的测试含量Cm；其中，最佳厚度lm的确定是通过比较多个所述校正样品试片经湿式化学分析获得的真实总含量与多个所述校正样品试片的钡元素的测试总含量，与真实总含量最为接近的校正样品试片的厚度即为最佳厚度；基于lm，将多个所述校正样品试片分成一组和二组：一组为所述校正样品试片的厚度大于lm的校正样品试片组，二组为所述校正样品试片的厚度小于lm的校正样品试片组；根据一组的校正样品试片的厚度与lm的差值，以及多个所述校正样品试片的钡元素的测试含量与Cm的差值，建立钡含量的测试误差值与待测样品厚度的一组校正函数；根据二组的校正样品试片的厚度与lm的差值，以及多个所述校正样品试片的钡元素的测试含量与Cm的差值，建立钡含量的测试误差值与待测样品厚度的二组校正函数。

全文数据：

权利要求：

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