申请/专利权人：惠州市德立电子有限公司

申请日：2023-12-25

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117474999B

主分类号：G06T7/73

分类号：G06T7/73;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/136

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.19#授权;2024.02.20#实质审查的生效;2024.01.30#公开

摘要：本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种微型片式电感双线绕线异常定位方法及系统，该方法包括：采集电感图像，提取磁芯内、外径圆；获取漆包线缠绕区域纹路图像，将纹路进行划分，提取各漆包线边缘纹路；计算极坐标中各位置的光照强度；根据各位置的光照强度得到漆包线缠绕区域灰度图像在极坐标中各位置的反光分布补偿；提取各像素点的关联像素点，计算各关联像素点的中心位置偏移量，得到像素点修正后的灰度值；提取修正后漆包线缠绕区域二值图像；计算各连通域的异常检测值，提取双线绕线异常的漆包线段，完成微型片式电感双线绕线异常定位。从而实现电感双线绕线异常精确定位，实现电感绕线异常的检测。

主权项：1.一种微型片式电感双线绕线异常定位方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：采集电感图像并进行灰度化；根据电感灰度图像结合阈值分割得到二值图像，并提取磁芯内、外径圆；采用磁芯内、外径圆构成圆环区域灰度值为1、其他区域灰度值为0的掩膜图像对电感灰度图像进行掩膜处理获取漆包线缠绕区域灰度图像；对漆包线缠绕区域灰度图像边缘检测获取漆包线缠绕区域纹路图像，根据漆包线缠绕区域纹路图像中各边缘像素点的分布将纹路进行划分，从纹路划分后的漆包线缠绕区域纹路图像中提取各漆包线边缘纹路；结合漆包线缠绕区域灰度图像构建极坐标，并计算极坐标中各位置的光照强度；根据各位置的光照强度得到漆包线缠绕区域灰度图像在极坐标中各位置的反光分布补偿；提取各像素点的关联像素点；根据像素点的各关联像素点周围的纹路分布得到各关联像素点的中心位置偏移量；根据像素点的反光分布补偿及对应关联像素点的中心位置偏移量得到像素点修正后的灰度值；采用大津阈值对所有像素点修正后的灰度值进行分割得到漆包线缠绕区域二值图像；根据漆包线缠绕区域二值图像中各连通域内像素点的分布得到各连通域的异常检测值，将异常检测值大于等于预设阈值的连通域对应的漆包线线段作为双线绕线异常的漆包线段，完成微型片式电感双线绕线异常定位；所述结合漆包线缠绕区域灰度图像构建极坐标，并计算极坐标中各位置的光照强度，包括：将漆包线缠绕区域灰度图像中每个像素点的横坐标和纵坐标分别减去磁芯中心的横坐标和纵坐标得到每个像素点的更新坐标，将所有像素点的更新坐标作为直角坐标系转换到极坐标系的输入，输出所有像素点的极坐标；所述光照强度表达式为： ；式中，是漆包线缠绕区域灰度图像中极坐标位置的灰度值，分别是反光分布补偿的窗口预设宽度、长度，是反光补偿的窗口中像素点总数，是极坐标位置的光照强度；所述反光分布补偿，包括：计算所有位置的光照强度的均值，将各位置的光照强度与所述均值的差值作为各位置的反光分布补偿；所述根据像素点的各关联像素点周围的纹路分布得到各关联像素点的中心位置偏移量，包括：沿着关联像素点极坐标的顺时针、逆时针旋转，分别统计关联像素点顺时针、逆时针方向上最近纹路的旋转角，计算顺时针与逆时针方向上最近纹路的旋转角之间的差值绝对值及和值，计算所述差值绝对值与所述和值的比值，将所述比值作为关联像素点的中心位置偏移量；所述根据像素点的反光分布补偿及对应关联像素点的中心位置偏移量得到像素点修正后的灰度值，表达式为： ；式中，、、分别是像素点的第个关联像素点的灰度值、中心位置偏移量、反光分布补偿，是关联像素点个数，是像素点修正后的灰度值，是第个关联像素点的坐标与像素点的坐标之间的欧式距离；所述根据漆包线缠绕区域二值图像中各连通域内像素点的分布得到各连通域的异常检测值，包括：以连通域的中点和磁芯中心的连线作为分割线，过分割线上第个像素点做分割线的垂线，所述垂线与连通域有两个交点，分别计算两个交点与第个像素点的欧式距离，获取两个欧式距离的差值绝对值；将连通域内分割线上所有像素点的所述差值绝对值的均值作为连通域的倾斜特征值；计算漆包线缠绕区域二值图像中所有连通域的倾斜特征值均值，将各连通域的倾斜特征值与所述倾斜特征值均值的差值绝对值除以所述倾斜特征值均值的结果作为各连通域的异常检测值。

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