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【发明公布】一种基于激光片光的水下耐辐照测量系统标定矫正方法_中国科学院光电技术研究所_202410075887.4 

申请/专利权人:中国科学院光电技术研究所

申请日:2024-01-18

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN117928898A

主分类号:G01M11/02

分类号:G01M11/02;G06F17/13;G01B11/00;G01B11/03

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要:本发明公开了一种基于激光片光的水下耐辐照测量系统标定矫正方法,该方法适用于强核辐射环境下的水下耐辐照测量系统包括:激光片光发射器、耐辐照图像传感器、耐辐照反射棱镜、水密封腔体和控制器。该标定矫正方法的具体操作步骤如下。1在水上低辐射的安全区域完成耐辐照图像传感器的固有参数标定;2激光片光发射器的旋转参数校准;3激光片光发射器的光平面参数标定;4计算耐辐照图像传感器与耐辐照反射棱镜之间的垂直距离,并推导出光轴与耐辐照反射棱镜前后表面的固定相交点的三维坐标;5计算像素坐标投射光线与激光片光平面交点的映射关系。

主权项:1.一种基于激光片光的水下耐辐照测量系统标定矫正方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1在水上低辐射的安全区域完成耐辐照图像传感器的固有参数、耐辐照图像传感器与激光片光发射器的位置参数标定;步骤2激光片光发射器的旋转参数校准;步骤3激光片光发射器的光平面参数标定;步骤4计算耐辐照图像传感器与耐辐照反射棱镜之间的垂直距离,并推导出光轴与反射棱镜前后表面的固定相交点的三维坐标;步骤5计算像素坐标投射光线与激光片光平面交点的映射关系。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院光电技术研究所 一种基于激光片光的水下耐辐照测量系统标定矫正方法

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