申请/专利权人：北京航空航天大学

申请日：2024-01-25

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN117930097A

主分类号：G01R33/12

分类号：G01R33/12

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要：本发明公开了用于软磁材料环形样品的无磁滞磁化曲线测试方法和系统，测试方法包括：对环形样品施加偏置磁场，并对所述环形样品进行消磁处理，获取第一环形样品；对所述第一环形样品施加激励磁场，获取软磁材料磁通密度变化；基于所述磁通密度变化，获取初始磁化曲线，并计算所述初始磁化曲线的起点磁通密度；改变所述偏置磁场直至达到饱和偏置磁场，结合不同所述偏置磁场下所述初始磁化曲线的起点磁通密度，获取无磁滞磁化曲线。本发明以饱和磁通密度为基准，对消磁后材料内部的磁通密度进行求解，避免直接测量消磁过程材料内部磁通密度的变化，降低累计误差，更准确快速地测量无磁滞磁化曲线。

主权项：1.用于软磁材料环形样品的无磁滞磁化曲线测试方法，其特征在于，包括：对环形样品施加偏置磁场，并对所述环形样品进行消磁处理，获取第一环形样品；对所述第一环形样品施加激励磁场，获取软磁材料磁通密度变化；基于所述磁通密度变化，获取初始磁化曲线，并计算所述初始磁化曲线的起点磁通密度；改变所述偏置磁场直至达到饱和偏置磁场，结合不同所述偏置磁场下所述初始磁化曲线的起点磁通密度，获取无磁滞磁化曲线。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京航空航天大学 用于软磁材料环形样品的无磁滞磁化曲线测试方法和系统

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