申请/专利权人:同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日:2023-12-29
公开(公告)日:2024-04-26
公开(公告)号:CN117929423A
主分类号:G01N23/00
分类号:G01N23/00
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开
摘要:提供一种用于对扫描成像设备进行能谱标定的标定方法,包括:在能谱标定模体位于射线形成的扫描区域中的情况下,根据射线源、能谱标定模体和探测器之间的相对位置,获取射线源、能谱标定模体和探测器之间的几何关系;通过探测器采集经过扫描区域的射线,以获取实际投影数据;获取能谱标定模体的物理属性,其中,物理属性是根据能谱标定模体的组成材料预先确定的或根据图像重建方法计算得到的;基于能谱标定模体的物理属性和几何关系,使用预定的多个基础能谱计算理论投影数据;根据理论投影数据和实际投影数据,对能谱参数进行标定,以获取优化的能谱参数;以及将优化的能谱参数确定为能谱标定参数。
主权项:1.一种用于对扫描成像设备进行能谱标定的标定方法,所述扫描成像设备包括用于发出射线的射线源和用于接收射线的探测器,在标定过程中,能谱标定模体位于所述射线形成的扫描区域中,其特征在于,所述标定方法包括:在能谱标定模体位于所述射线形成的扫描区域中的情况下,根据所述射线源、所述能谱标定模体和所述探测器之间的相对位置,获取所述射线源、所述能谱标定模体和所述探测器之间的几何关系;通过所述探测器采集经过所述扫描区域的射线,以获取实际投影数据;获取所述能谱标定模体的物理属性,其中,所述物理属性是根据所述能谱标定模体的组成材料预先确定的;基于所述能谱标定模体的物理属性和所述几何关系,使用预定的多个基础能谱计算理论投影数据;根据所述理论投影数据和所述实际投影数据,对能谱参数进行标定,以获取优化的能谱参数;以及将所述优化的能谱参数确定为能谱标定参数。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 同方威视技术股份有限公司;清华大学 用于对扫描成像设备进行能谱标定的标定方法和系统
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