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申请/专利权人：深圳市广晟德科技发展有限公司
申请日：2024-01-25
公开（公告）日：2024-04-26
公开（公告）号：CN117930070A
主分类号：G01R31/44
分类号：G01R31/44;G01B11/00;G01R31/00
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开
摘要：本发明涉及一种miniLED的老化性能的测试方法及装置。其中方法包括：获取每个待测试的miniLED灯珠的唯一标识编号；捕获待测试产品的端子接口的图像，并根据预设的端子接口位置，调整待测试产品的端子接口的位置；获取当前的测试温度，判断当前的测试温度是否处于预设的温度范围内；若否，则向温控设备发送调整指令，使得调整后的测试温度处于预设的温度范围内；若是，则对待测试产品通过不同的驱动条件进行老化性能测试和判定，将判定结果上传至制造执行系统（MES）上。解决了传统的LED老化测试的方法耗费大量的时间和资源的问题。本发明具有更省时间、可溯源的对miniLED进行老化测试的效果。
主权项：1.一种miniLED的老化性能的测试方法，其特征在于，包括：获取每个待测试的miniLED灯珠的唯一标识编号；捕获待测试产品的端子接口的图像，所述待测试产品包括若干个待测试的miniLED灯珠，并根据预设的端子接口位置，调整所述待测试产品的端子接口的位置，使得所述待测试产品的端子接口的位置与所述预设的端子接口位置重合，确保所述待测试产品都能够接通电源；获取当前的测试温度，判断所述当前的测试温度是否处于预设的温度范围内；当所述当前的测试温度不处于预设的温度范围内时，则向温控设备发送调整指令，使得调整后的测试温度处于预设的温度范围内；当所述当前的测试温度处于预设的温度范围内时，则对所述待测试产品通过不同的驱动条件进行老化性能测试和判定，并根据所述唯一标识编号，将判定结果上传至制造执行系统（MES）上。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市广晟德科技发展有限公司 一种mini LED的老化性能的测试方法及装置
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