申请/专利权人：微芯片技术股份有限公司

申请日：2023-02-06

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN117940783A

主分类号：G01R31/317

分类号：G01R31/317;G01R31/3193;G06F30/3312

优先权：["20220205 US 63/307,098","20230203 US 18/105,734"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要：一种测试集成电路的系统和方法将第一时钟信号提供给第一触发器，该第一触发器具有到功能电路的输出端；将第二时钟信号提供给第二触发器，该第二触发器具有来自功能电路的输入端，其中第二触发器具有最小保持时间；将测试输入提供给第一触发器；观察通过功能电路的信号传播时间；确定信号传播时间小于第二触发器的最小保持时间；以及通过将延迟单元添加到第一时钟信号或从第二时钟信号中减去延迟单元来增加时序间隔。

主权项：1.一种测试集成电路的方法，所述方法包括：向第一触发器提供第一时钟信号，所述第一触发器具有到功能电路的输出端，向第二触发器提供第二时钟信号，所述第二触发器具有来自所述功能电路的输入端，其中，所述第二触发器具有最小保持时间，向所述第一触发器提供测试输入，观察通过所述功能电路的信号传播时间，确定所述信号传播时间小于所述第二触发器的所述最小保持时间，以及响应于确定所述信号传播时间小于所述第二触发器的所述最小保持时间，通过向所述第一时钟信号添加延迟单元或从所述第二时钟信号减去延迟单元来增加时序间隔。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 微芯片技术股份有限公司 制造后修复最小延迟违例的系统和方法

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