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【发明授权】MEMS凸片移除方法_应美盛股份有限公司_202180082920.0 

申请/专利权人:应美盛股份有限公司

申请日:2021-12-10

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN116601107B

主分类号:B81C1/00

分类号:B81C1/00

优先权:["20201215 US 63/199,240"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.26#授权;2023.11.24#实质审查的生效;2023.08.15#公开

摘要:一种方法,其包括对设置在第一管芯和第二管芯之间的凸片区的区域进行凸片划切。凸片区在结构上将第一管芯连接至第二管芯,第一管芯与第二管芯各自包括与CMOS器件共晶接合的MEMS器件。凸片区包括设置在熔融接合氧化物层之上的处理晶圆层,该熔融接合氧化物层设置在ACT层上。凸片区位于CMOS凸片区上方,其与第一和第二管芯形成其中的空腔。凸片划切切割穿过处理晶圆层,并留下在处理晶圆层下方的熔融接合氧化物层的一部分,从而在凸片区内形成氧化物系链。氧化物系链将凸片区维持在适当的位置并且维持在CMOS凸片区上方。在对第一区进行凸片划切之后,移除凸片区。

主权项:1.一种方法,其包括:在设置在第一管芯和第二管芯之间的凸片区中形成预切割,其中所述凸片区在结构上将所述第一管芯连接至所述第二管芯,其中所述第一管芯包括与第一半导体器件共晶接合的第一微机电系统MEMS器件,以及其中所述第二管芯包括与第二半导体器件共晶接合的第二MEMS器件,其中所述凸片区包括设置在熔融接合氧化物层之上的处理晶圆层,所述熔融接合氧化物层设置在致动器ACT层上,其中所述凸片区位于半导体凸片区上方,以及其中所述凸片区、第一管芯、第二管芯和半导体凸片区形成其中的空腔;对所述凸片区的对应于预切割的第一区进行凸片划切,其切割穿过所述处理晶圆层、熔融接合氧化物层以及ACT层,以暴露所述半导体凸片区;对所述凸片区的第二区进行凸片划切,所述划切切割穿过所述处理晶圆层并留下下方的所述ACT层的一部分以形成ACT系链,其中所述ACT系链使所述凸片区在结构上维持在适当的位置并且维持在所述半导体凸片区的上方;以及在对所述第一区和第二区进行凸片划切之后,移除所述凸片区。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 应美盛股份有限公司 MEMS凸片移除方法

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