申请/专利权人:株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
申请日:2020-08-14
公开(公告)日:2024-04-26
公开(公告)号:CN113364456B
主分类号:H03L7/18
分类号:H03L7/18
优先权:["20200304 JP 2020-036649"]
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.04.26#授权;2021.09.24#实质审查的生效;2021.09.07#公开
摘要:实施方式提供能够对本地振荡器中的相位变动进行检测的相位校正装置、测距装置、相位变动检测装置以及相位校正方法。实施方式的相位校正装置具备:本地振荡器,具有基于参考时钟而生成本地振荡信号的PLL,对检测所输入的信号的相位的装置给予所述本地振荡信号;第一相位检测器,包含于所述PLL,检测并输出所述本地振荡信号的相位;基准相位器,基于所述参考时钟,生成并输出与所述本地振荡器的初始设定时的所述本地振荡信号的基准相位对应的准基准相位;第二相位检测器,基于由所述第一相位检测器检测到的相位和所述准基准相位,检测所述本地振荡器的相位的变动量;以及校正电路,使用第二相位检测器的检测结果对所述输入的信号的相位进行校正。
主权项:1.一种相位校正装置,其中,具备:本地振荡器,具有基于参考时钟而生成本地振荡信号的锁相环PLL,对检测所输入的信号的相位的装置给予所述本地振荡信号;第一相位检测器,包含于所述锁相环PLL,检测并输出所述本地振荡信号的相位;基准相位器,基于所述参考时钟,生成并输出与所述本地振荡器的初始设定时的所述本地振荡信号的基准相位对应的准基准相位;第二相位检测器,基于由所述第一相位检测器检测到的相位和所述准基准相位,检测所述本地振荡器的相位的变动量;以及校正电路,使用所述第二相位检测器的检测结果对所述输入的信号的相位进行校正。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 相位校正装置及方法、测距装置、相位变动检测装置
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