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【发明授权】实现消除失调功能的采样保持电路结构_华润微集成电路(无锡)有限公司_201911335750.3 

申请/专利权人:华润微集成电路(无锡)有限公司

申请日:2019-12-23

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN113098510B

主分类号:H03M1/06

分类号:H03M1/06

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.26#授权;2021.07.27#实质审查的生效;2021.07.09#公开

摘要:本发明涉及一种实现消除失调功能的采样保持电路结构,包括运算放大器、第一CMOS传输门模块和失调消除模块,所述的运算放大器的正输入端接输入信号,输出端与第一CMOS传输门模块相连,且运算放大器的负输入端与输出端相连作为单位增益缓冲器,所述的失调消除模块的两端分别与所述的运算放大器的正输入端和CMOS传输门模块的输出端相连接,所述的失调消除模块用于消除运算放大器引入的失调电压的影响。采用本发明的实现消除失调功能的采样保持电路结构,消除了运算放大器的失调电压误差,减小了运算放大器设计的难度,同时降低了成本。本发明采用大尺寸的MP1和MN1以及最小尺寸的MP2和MN2,在满足快的采样速度的同时,也保证了整个模数转换器的精度。

主权项:1.一种实现消除失调功能的采样保持电路结构,其特征在于,所述的电路结构包括运算放大器、第一CMOS传输门模块和失调消除模块,所述的运算放大器的正输入端接输入信号,输出端与第一CMOS传输门模块相连,且运算放大器的负输入端与输出端相连作为单位增益缓冲器,所述的失调消除模块的两端分别与所述的运算放大器的正输入端和CMOS传输门模块的输出端相连接,所述的失调消除模块用于消除运算放大器引入的失调电压的影响;所述的失调消除模块包括脉冲产生单元和第一反相器,所述的脉冲产生单元的输出端与第一反相器的输入端相连接;所述的失调消除模块还包括第二CMOS传输门单元,所述的第二CMOS传输门单元分别与输入信号端和输出信号端相连接;所述的第二CMOS传输门单元由第二PMOS管和第二NMOS管构成,所述的脉冲产生单元的输出信号和第一反相器的输出信号分别控制第二PMOS管的栅极和第二NMOS管的栅极;所述的脉冲产生单元由第二反相器、第三反相器、第四反相器、第五反相器、第六反相器、二输入或非门、电阻和电容构成,所述的第二反相器与第三反相器串联,所述的第四反相器、电阻、第五反相器、第六反相器串联,所述的第四反相器的输入端与第三反相器的输出端相连接,所述的二输入或非门的第一输入端与第三反相器的输出端相连接,所述的二输入或非门的第二输入端与第五反相器的输出端相连接,所述的电容一端接于电阻和第五反相器之间,另一端接地。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 华润微集成电路(无锡)有限公司 实现消除失调功能的采样保持电路结构

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