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申请/专利权人：中国科学院物理研究所
申请日：2024-01-15
公开（公告）日：2024-04-30
公开（公告）号：CN117956671A
主分类号：H05H1/00
分类号：H05H1/00
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.17#实质审查的生效;2024.04.30#公开
摘要：本发明提供了用于测量等离子体的密度的方法和装置。该方法包括：提供激光源；将从激光源接收的第一波长的激光分成反射光和透射光；对反射光进行反射；通过第一偏振器接收经反射镜反射的反射光；对透过偏振器的线偏振光经等离子体之后形成的径向探测光进行聚焦；将经聚焦的径向探测光分成第一子径向探测光和第二子径向探测光；通过第二偏振器接收第一子径向探测光和第二子径向探测光；接收经第二偏振器之后产生的径向探测光；使透射光发生频率变换，产生具有与第一波长不同的第二波长的光；透射非线性光学元件产生的具有第二波长的光，并且使具有第二波长的光沿等离子体的轴向方向入射到等离子体；以及接收经等离子体之后产生的轴向探测光。
主权项：1.一种用于测量等离子体的密度的方法，包括：提供激光源，所述激光源被配置为发射具有第一波长的激光；将从所述激光源接收的激光分成反射光和透射光；对所述反射光进行反射；通过第一偏振器接收经所述反射镜反射的反射光，其中，所述第一偏振器被配置为允许透过与水平方向的夹角为45°的线偏振光并且使所述线偏振光沿等离子体的径向方向入射到等离子体；对所述线偏振光经等离子体之后形成的径向探测光进行聚焦；将经聚焦的径向探测光分成第一子径向探测光和第二子径向探测光，其中，所述第一子径向探测光和第二子径向探测光是在水平方向上分离并且偏振方向彼此垂直的线偏振光；通过第二偏振器接收所述第一子径向探测光和第二子径向探测光，其中，所述第二偏振器被配置为允许透过与水平方向的夹角为45°的线偏振光；接收经第二偏振器之后产生的径向探测光；使所述透射光发生频率变换，产生具有与所述第一波长不同的第二波长的光；透射所述非线性光学元件产生的具有第二波长的光，并且使所述具有第二波长的光沿等离子体的轴向方向入射到等离子体；以及接收经等离子体之后产生的轴向探测光。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院物理研究所 用于测量等离子体的密度的方法和装置
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