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【发明公布】尺寸测量装置、尺寸测量方法以及程序_松下知识产权经营株式会社_202280059791.8 

申请/专利权人:松下知识产权经营株式会社

申请日:2022-08-19

公开(公告)日:2024-04-30

公开(公告)号:CN117957418A

主分类号:G01B11/02

分类号:G01B11/02;G06T7/60;G06F3/0482;G06T17/00

优先权:["20210914 JP 2021-149474"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.04.30#公开

摘要:一种尺寸测量装置100具备处理器和存储器,处理器利用存储器,获得对象物的三维模型S61,从作为三维形状的多个候补的多个基本形状中选择一个基本形状S62,将选择的基本形状拟合到三维模型S63,利用拟合后的基本形状,对对象物的尺寸进行测量S64。例如可以是尺寸测量装置100在显示器显示用于用户从多个基本形状中指定一个基本形状的显示内容,根据由用户经由输入界面指定的信息,从多个基本形状中选择一个基本形状。

主权项:1.一种尺寸测量装置,所述尺寸测量装置具备:处理器;以及存储器,所述处理器利用所述存储器,获得对象物的三维模型,从作为三维形状的多个候补的多个基本形状中选择一个基本形状,将选择的所述基本形状拟合到所述三维模型,利用拟合后的所述基本形状,对所述对象物的尺寸进行测量。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 松下知识产权经营株式会社 尺寸测量装置、尺寸测量方法以及程序

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