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申请/专利权人：本源量子计算科技(合肥)股份有限公司
申请日：2022-10-19
公开（公告）日：2024-04-30
公开（公告）号：CN117952219A
主分类号：G06N10/40
分类号：G06N10/40;G06F11/22
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.17#实质审查的生效;2024.04.30#公开
摘要：本发明公开了一种量子芯片的测试方法、量子计算机，核心思想在于利用待测量子比特的AC调制谱进行串扰的测试，首先在第一AC信号处于不同值时，获取所述待测量子比特对应的若干个AC调制谱，所述第一AC信号为施加在第一量子比特的频率调制线上的信号，所述待测量子比特与所述第一量子比特为量子芯片中任意相邻的两个量子比特，然后基于获取到的若干个AC调制谱，获取所述第一量子比特对所述待测量子比特的第一串扰。利用本申请的方案可以有效测试量子芯片中邻近量子比特的串扰影响，弥补了现有技术的空白。
主权项：1.一种量子芯片的测试方法，其特征在于，包括：在第一AC信号处于不同值时，获取所述待测量子比特对应的若干个AC调制谱，所述第一AC信号为施加在第一量子比特的频率调制线上的信号，所述待测量子比特与所述第一量子比特为量子芯片中任意相邻的两个量子比特；基于获取到的若干个AC调制谱，获取所述第一量子比特对所述待测量子比特的第一串扰。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 本源量子计算科技(合肥)股份有限公司 量子芯片的测试方法、量子计算机
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