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申请/专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日：2024-01-17
公开（公告）日：2024-04-30
公开（公告）号：CN117949414A
主分类号：G01N21/63
分类号：G01N21/63
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.17#实质审查的生效;2024.04.30#公开
摘要：本发明公开了一种评估微纳米级发光二极管性能老化的方法，其包括：获取待测样品的原子级晶体结构图，得到辐照前晶体结构图像；采用激光辐照待测样品；获取激光辐照后的待测样品的原子级晶体结构图，得到辐照后晶体结构图像；对辐照前晶体结构图像和辐照后晶体结构图像进行布拉格滤波处理；对布拉格滤波处理后的图像进行图像数值线扫描统计，得到辐照前后的图像数值对比图；根据辐照前后的图像数值对比图评估样品辐照前后的老化程度。本发明提供的评估微纳米级发光二极管性能老化的方法，通过激光作为激励方式，以模拟微纳米级发光二极管在工作期间受到的热应力和电应力的影响，具有测试时间短、效率高的优点。
主权项：1.一种评估微纳米级发光二极管性能老化的方法，其特征在于，包括：获取待测微纳米级发光二极管样品的原子级晶体结构图，得到辐照前晶体结构图像；采用激光辐照待测微纳米级发光二极管样品；获取激光辐照后的待测微纳米级发光二极管样品的原子级晶体结构图，得到辐照后晶体结构图像；对辐照前晶体结构图像和辐照后晶体结构图像进行布拉格滤波处理；对布拉格滤波处理后的图像进行图像数值线扫描统计，得到辐照前后的图像数值对比图；根据辐照前后的图像数值对比图评估微纳米级发光二极管样品辐照前后的老化程度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 评估微纳米级发光二极管性能老化的方法
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