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申请/专利权人：南京大学
申请日：2023-12-27
公开（公告）日：2024-04-30
公开（公告）号：CN117952221A
主分类号：G06N10/70
分类号：G06N10/70;G06N10/40;G06F17/16
优先权：["20230614 CN 2023107042146"]
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.17#实质审查的生效;2024.04.30#公开
摘要：本发明公开一种非局域量子态直接测量表征方法、电子设备及存储介质，通过相互作用，将两体非局域量子态ρs与最大纠缠态的测量指针相耦合；对系统进行后选择操作；对测量指针进行两次投影测量，得到测量结果；改变系统与指针的相互作用，重复测量过程，得到另外几组测量结果；指针投影测量都为|φ1φ1|时得到的四个测量结果转换为量子态分布矩阵元素的实部，都为|φ2φ2|时由四个结果得到矩阵元素的虚部；更换测量设置遍历基底，测量得到整个非局域量子态的矩阵表示。本发明克服弱耦合方案固有的低精度缺点，能够更精确地对非局域系统进行表征。
主权项：1.一种非局域量子态直接测量表征方法，其特征在于，包括：待测两体系统和测量指针，所述待测两体系统包括系统A和系统B，所述测量指针包括测量指针a1、测量指针a2；将待测两体系统与测量指针相互作用，将待测两体系统的非局域量子态ρs与测量指针态|φaφ|a相耦合，其中测量指针态选取为最大纠缠态下标s代表系统、下标a表示测量指针；对待测两体系统的非局域量子态进行后选择操作|f1f2f1f2|，其中，基底{|f1||f2}是待测两体系统计算基底{|k|j}的互补基底，其中k，j∈[1,d]和f1，f2∈[1,d]分别表示系统A和系统B出量子态的计算基和傅里叶变换基指标；对测量指针分别进行两次投影测量|φ1φ1|和|φ2φ2|，得到一组测量结果的几率，记为改变待测两体系统与测量指针相互作用，重复测量过程，得到三组测量结果的几率，分别记为测量指针投影测量都为|φ1φ1|时，得到的四个测量结果的几率可以转换得到量子态分布矩阵元素的实部；测量指针投影测量都为|φ2φ2|时得到的四个测量的几率结果可以转换得到量子态分布矩阵元素的虚部；更换测量设置对基底|kA|f2Bf1|Aj|B进行遍历，直接测量并表征待测两体系统非局域量子态的矩阵表示。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 南京大学 非局域量子态直接测量表征方法、电子设备及存储介质
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