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申请/专利权人：清华大学
申请日：2024-02-28
公开（公告）日：2024-04-30
公开（公告）号：CN117949790A
主分类号：G01R31/12
分类号：G01R31/12
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.17#实质审查的生效;2024.04.30#公开
摘要：本申请涉及高压输电设备状态评估技术领域，特别涉及一种基于光子计数的绝缘拉杆微缺陷检测装置及方法，装置包括：绝缘拉杆耐压夹具、电源供给组件、检测组件和处理组件，其中，电源供给组件用于提供满足预设电压强度的运行电场；检测组件用于检测待测GIS绝缘拉杆电致发光阶段输出的光脉冲；处理组件用于分析预设积分时间内光脉冲的输出个数，并在满足预设稳态条件时，控制绝缘拉杆耐压夹具带动待测GIS绝缘拉杆旋转，根据不同角度光脉冲的输出个数确定缺陷角度，控制检测组件移动对待测GIS绝缘拉杆进行微缺陷定位。由此，解决了灯光试验费时费力、工频耐压测试及局部放电测试难以检测微缺陷且过程繁琐的问题。
主权项：1.一种基于光子计数的绝缘拉杆微缺陷检测装置，其特征在于，包括：绝缘拉杆耐压夹具；电源供给组件，用于在将待测GIS绝缘拉杆放置于所述绝缘拉杆耐压夹具中后，为所述待测GIS绝缘拉杆提供满足预设电压强度的运行电场；检测组件，用于检测在电压激励下，所述待测GIS绝缘拉杆电致发光阶段输出的光脉冲；以及处理组件，用于分析预设积分时间内所述光脉冲的输出个数，并在所述输出个数满足预设稳态条件时，控制所述绝缘拉杆耐压夹具带动所述待测GIS绝缘拉杆按照预设旋转策略旋转，由不同角度光脉冲的输出个数确定所述待测GIS绝缘拉杆的缺陷角度后，控制所述检测组件按照预设平移策略移动，以对所述待测GIS绝缘拉杆进行微缺陷定位。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 清华大学 基于光子计数的绝缘拉杆微缺陷检测装置及方法
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