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【发明授权】磁带、磁带盒及磁记录再生装置_富士胶片株式会社_202010834199.3 

申请/专利权人:富士胶片株式会社

申请日:2020-08-18

公开(公告)日:2024-04-30

公开(公告)号:CN112397096B

主分类号:G11B5/706

分类号:G11B5/706;G11B5/712;G11B5/714;G11B5/78;G11B5/85

优先权:["20190819 JP 2019-149950"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.30#授权;2022.06.24#实质审查的生效;2021.02.23#公开

摘要:本发明提供一种能够抑制使用中和或保管中的变形的磁带、包含该磁带的磁带盒及磁记录再生装置。一种磁带,其具有非磁性支撑体和包含强磁性粉末的磁性层,其中,在70℃下加热10小时前后,在50℃~100℃范围的测定温度下的损耗角正切tanδ的变化量Δ1为0.000以上且0.012以下。

主权项:1.一种磁带,其具有非磁性支撑体和包含强磁性粉末的磁性层,其中,在70℃下加热10小时前后,在50℃~100℃的范围的测定温度下的损耗角正切tanδ的变化量Δ1为0.000以上且0.012以下,所述变化量Δ1的测定方法如下所述:对于在70℃下在绝对湿度0.014kgkgD.A.以下的条件下加热10小时前的磁带样品即未加热的样品和在70℃下在绝对湿度0.014kgkgD.A.以下的条件下加热10小时后的磁带样品即经加热的样品,使用动态粘弹性测定装置在测定模式为拉伸、频率为1Hz、应变振幅为0.1%、升温速度为2.0℃分钟的测定条件下进行测定,在50℃~100℃的范围的测定温度下以0.5℃~2.0℃的温度间隔在各测定温度下求出储存弹性模量及损失弹性模量,以“tanδ=损失弹性模量储存弹性模量”求出损耗角正切tanδ,求出“未加热的样品的tanδ-经加热的样品的tanδ”,将在50℃~100℃范围的各测定温度下求出的“未加热的样品的tanδ-经加热的样品的tanδ”的最大值作为所述变化量Δ1,所述测定温度是指动态粘弹性测定装置内的样品附近的气氛温度,所述D.A.表示干燥空气。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 富士胶片株式会社 磁带、磁带盒及磁记录再生装置

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