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【发明授权】一种用于陶瓷洁具位姿精确测量的点云配准方法_天津理工大学_202111374896.6 

申请/专利权人:天津理工大学

申请日:2021-11-19

公开(公告)日:2024-04-30

公开(公告)号:CN114067078B

主分类号:G06T17/20

分类号:G06T17/20;G06T7/33;G06T7/73

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.30#授权;2022.03.08#实质审查的生效;2022.02.18#公开

摘要:本发明提供了一种用于陶瓷洁具位姿精确测量的点云配准方法,包括:点云数据获取:使用激光雷达采集待定位陶瓷洁具位姿的目标点云Q以及标准陶瓷洁具位姿的原始点云P;提取特征点:计算原始点云P以及目标点云Q中所有采样点的法向量,选取其中法向量内积绝对值小于设定阈值ε1的采样点作为特征点;粗配准以及精配准;本发明旨在提出一种用于陶瓷洁具位姿精确测量的点云配准方法,可以实现对待定位陶瓷洁具位姿的目标点云Q以及标准陶瓷洁具位姿的原始点云P进行快速准确的配准,有效避免了容易陷入局部最优解的问题,具有配准速度快以及精度高的特点。

主权项:1.一种用于陶瓷洁具位姿精确测量的点云配准方法,其特征在于:包括:步骤一:点云数据获取:使用激光雷达采集待定位陶瓷洁具位姿的目标点云Q以及标准陶瓷洁具位姿的原始点云P;步骤二:提取特征点:计算原始点云P以及目标点云Q中所有采样点的法向量,选取其中法向量内积绝对值小于设定阈值ε1的采样点作为特征点;步骤三:粗配准:计算所有特征点的FPFH描述符,通过一致性算法对原始点云P中的特征点以及目标点云Q中的特征点进行匹配,得到匹配特征点对,去除匹配特征点对之间距离大于设定阈值ε2的匹配特征点对,保留剩余匹配特征点对作为初始匹配特征点对,基于初始匹配特征点使用单位四元数法计算得到原始点云P与目标点云Q的初始变换矩阵;步骤四:精配准:使用初始变换矩阵得到点云匹配的初始位置,再使用ICP算法进行精确配准,得到最终的待定位陶瓷洁具位姿的目标点云Q以及标准陶瓷洁具位姿的原始点云P之间的转换矩阵,完成待定位陶瓷洁具位姿的精确测量。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 天津理工大学 一种用于陶瓷洁具位姿精确测量的点云配准方法

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