申请/专利权人：中国人民解放军63921部队

申请日：2022-10-24

公开（公告）日：2024-04-30

公开（公告）号：CN115655763B

主分类号：G01M99/00

分类号：G01M99/00;G01R29/10;G01D21/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.30#授权;2023.02.17#实质审查的生效;2023.01.31#公开

摘要：本发明提供一种小口径天线组阵干涉测量装置和方法，装置包括：左侧小口径天线组阵和右侧小口径天线组阵；所述左侧小口径天线组阵和所述右侧小口径天线组阵均包括至少一组小口径天线子组阵；所述左侧小口径天线组阵的任意小口径天线子组阵，与所述右侧小口径天线组阵的任意小口径天线子组阵，形成月球探测器干涉测量组合单元。具有以下优点：1天线波束宽度大，可以提高月球距离目标的空域覆盖。2通过多天线系统合成可以提高系统品质因素，并减少测量误差。3具有良好灵活性和可扩展性。可以根据实际的需要完成小口径天线组阵天线调度，实现对多个任务支持；同时通过扩展天线组阵的规模，可以提高系统的性能。

主权项：1.一种基于小口径天线组阵干涉测量装置的测量方法，其特征在于，小口径天线组阵干涉测量装置包括左侧小口径天线组阵和右侧小口径天线组阵；其中，所述左侧小口径天线组阵和所述右侧小口径天线组阵均包括至少一组小口径天线子组阵；所述左侧小口径天线组阵的任意小口径天线子组阵，与所述右侧小口径天线组阵的任意小口径天线子组阵，形成月球探测器干涉测量组合单元；其中，所述小口径天线子组阵包括多个布置于地面站的具有相同测量参数的小口径天线；各组所述小口径天线子组阵包括的小口径天线的数量相同或不相同；基于小口径天线组阵干涉测量装置的测量方法包括以下步骤：步骤1，设左侧小口径天线组阵包括n组左侧小口径天线子组阵，分别表示为：Group1,Group2,...,Groupn；设右侧小口径天线组阵包括m组右侧小口径天线子组阵，分别表示为：group1,group2,...,groupm；步骤2，各组左侧小口径天线子组阵和各组右侧小口径天线子组阵同时接收月球探测器的下行信号，并对月球探测器的下行信号进行采样；步骤3，对于左侧小口径天线组阵中的任意左侧小口径天线子组阵，表示为：左侧小口径天线子组阵Groupi，其中，i＝1,2,...,n；对于右侧小口径天线组阵中的任意右侧小口径天线子组阵，表示为：右侧小口径天线子组阵groupj，其中，j＝1,2,...,m；左侧小口径天线子组阵Groupi和右侧小口径天线子组阵groupj形成月球探测器干涉测量组合单元，采用以下方式，完成对月球探测器干涉测量：步骤3.1，采用以下方式，得到左侧小口径天线子组阵Groupi的组阵合成信号Fi：步骤3.1.1，左侧小口径天线子组阵Groupi包括Q个左侧小口径天线，Q个左侧小口径天线从1开始编号，分别表示为：左侧小口径天线Wirei1,Wirei2,...,WireiQ，其采样后得到的下行信号分别表示为：Fi1,Fi2,...,FiQ；步骤3.1.2，选定第1个左侧小口径天线Wirei1作为参考天线，以参考天线为基准，确定组阵内其他Q-1个左侧小口径天线Wirei2,...,WireiQ相对参考天线的时延，分别为：时延ti2,...,tiQ；步骤3.1.3，采用下式，对下行信号Fi1,Fi2,...,FiQ进行合成，得到左侧小口径天线子组阵Groupi的组阵合成信号Fi： 其中，u＝2,...,Q，代表左侧小口径天线子组阵Groupi中，除参考天线以外的其他Q-1个左侧小口径天线的编号；步骤3.2，采用以下方式，得到右侧小口径天线子组阵groupj的组阵合成信号Fj：步骤3.2.1，右侧小口径天线子组阵groupj包括M个右侧小口径天线，M个右侧小口径天线从1开始编号，分别表示为：右侧小口径天线Wirej1,Wirej2,...,WirejM，其采样后得到的下行信号分别表示为：Fj1,Fj2,...,FjM；步骤3.2.2，选定第1个右侧小口径天线Wirej1作为参考天线，以参考天线为基准，确定组阵内其他M-1个右侧小口径天线Wirej2,...,WirejM相对参考天线的时延，分别为：时延tj2,...,tjM；步骤3.2.3，采用下式，对下行信号Fj1,Fj2,...,FjM进行合成，得到右侧小口径天线子组阵groupj的组阵合成信号Fj： 其中，v＝2,...,M，代表右侧小口径天线子组阵groupj中，除参考天线以外的其他M-1个右侧小口径天线的编号；步骤3.3，对左侧小口径天线子组阵Groupi的组阵合成信号Fi和右侧小口径天线子组阵groupj的组阵合成信号Fj进行相关处理和后处理，得到干涉测量信号的时延观测量τ，其中，τ＝CovFi,Fj，Cov表示相关处理及后处理算法，完成对月球探测器的干涉测量。

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