申请/专利权人：中国科学院新疆理化技术研究所

申请日：2021-10-12

公开（公告）日：2024-04-30

公开（公告）号：CN113917513B

主分类号：G01T1/02

分类号：G01T1/02;G01T1/185

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.30#授权;2022.01.28#实质审查的生效;2022.01.11#公开

摘要：本发明提供了一种用于电离总剂量辐照后光电成像器件随机电报信号的测试方法。该方法涉及装置是由暗室和样品测试板两部分组成。将样品测试板置于暗室内，将辐照后的CMOS图像传感器固定在样品锁紧座上，盖上遮光盖，接通电源，给样品测试板供电，通过计算机软件找到工作温度、像素电压、积分时间、采图频率、采图时长、窗口大小等条件与测试结果和试验数据量之间的关系，依据计算结果确定试验条件，完成随机电报信号的测试。本发明可以在实验室条件下完成电离总剂量产生随机电报信号的准确测试，适用范围广，方法简单，可操作性强。

主权项：1.一种用于电离总剂量辐照后光电成像器件随机电报信号测试方法，其特征在于该方法涉及装置是由暗室（1）和样品测试板（2）两大部分组成，在样品测试板（2）上分别设置有电压调节模块（3）、遮光盖（4）、样品锁紧座（5）、传感器供电模块（6）、传感器偏置模块（7）、现场可编程门阵列（8）和供电端口（9），电源（10）与供电端口（9）连接，样品锁紧座（5）分别与传感器供电模块（6）、传感器偏置模块（7）和现场可编程门阵列（8）连接，现场可编程门阵列（8）与计算机（11）连接，具体操作按下列步骤进行：a、将样品测试板（2）置于暗室（1）内，将测试样品辐照后的CMOS图像传感器固定在样品锁紧座（5）上，盖上遮光盖（4），接通电源（10），给样品测试板（2）供电，传感器供电模块（6）和传感器偏置模块（7）提供测试样品所需的静态偏置，现场可编程门阵列（8）通过计算机（11）向测试样品提供动态时序，测试样品采集的图像数据通过现场可编程门阵列（8）传输至计算机（11）；b、调节暗室（1）环境温度，将固定在样品锁紧座（5）的测试样品辐照后的CMOS图像传感器在该温度下静置30min，使测试样品温度与暗室（1）环境温度一致，整个测试过程中暗室（1）环境温度波动范围为±1℃；c、使用计算机软件计算不同传输栅压下平均暗电流值，根据计算结果，调节样品测试板（2）的电压调节模块（3），设置测试样品的传输栅电压；d、使用计算机软件计算不同积分时间下随机电报信号跳变幅度，根据计算结果，设置计算机（11）采图软件相关参数确定测试样品的积分时间和采图频率；e、使用计算机软件计算不同采图时长下随机电报信号检测结果，根据计算结果，设置计算机（11）采图软件相关参数确定连续采图时间和采集图像的数目；f、设置计算机（11）采图软件的窗口大小，使用计算机软件计算不同窗口大小下试验数据量，确定测试样品输出图像的大小；g、开始随机电报信号测试，测试结束后，使用计算机数据处理软件处理试验数据，获得随机电报信号的测试结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院新疆理化技术研究所 一种用于电离总剂量辐照后光电成像器件随机电报信号测试方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD