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【实用新型】一种测斜仪精度检定结构_上海跬图测控新技术研究有限公司;上海米度测控科技有限公司_202322689733.8 

申请/专利权人:上海跬图测控新技术研究有限公司;上海米度测控科技有限公司

申请日:2023-10-08

公开(公告)日:2024-04-30

公开(公告)号:CN220871774U

主分类号:G01C25/00

分类号:G01C25/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.30#授权

摘要:本实用新型公开了一种测斜仪精度检定结构,包括:支撑架组件、两气泡水平尺、测斜管组件、上固定件、下固定件、连接件、第一水平测量组件和第二水平测量组件,两气泡水平尺安装于支撑架组件,上固定件安装于支撑架组件,下固定件安装于支撑架组件,连接件套设于测斜管组件,第一水平测量组件和第二水平测量组件均与连接件连接,第一水平测量组件测量第一方向的偏移量,第二水平测量组件测量第二方向的偏移量,第一方向和第二方向相互垂直设置。通过对本实用新型的应用,提供了一种测斜仪精度检定结构,通过第一水平测量组件和第二水平测量组件对测斜仪进行两个方向的检定,提高检定精度,方便快捷。

主权项:1.一种测斜仪精度检定结构,其特征在于,包括:支撑架组件、两气泡水平尺、测斜管组件、上固定件、下固定件、连接件、第一水平测量组件和第二水平测量组件,两所述气泡水平尺安装于所述支撑架组件的下端,两所述气泡水平尺相互垂直设置,所述上固定件安装于所述支撑架组件的上端,所述下固定件安装于所述支撑架组件的下端,所述测斜管组件的上端安装于所述上固定件,所述测斜管组件的下端安装于所述下固定件,所述连接件套设于所述测斜管组件上,所述第一水平测量组件和所述第二水平测量组件均安装于所述支撑架组件上,所述第一水平测量组件和所述第二水平测量组件均与所述连接件连接,所述第一水平测量组件可操作地测量所述测斜管组件沿第一方向的偏移量,所述第二水平测量组件可操作地测量所述测斜管组件沿第二方向的偏移量,所述第一方向和所述第二方向相互垂直设置。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海跬图测控新技术研究有限公司;上海米度测控科技有限公司 一种测斜仪精度检定结构

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